Prodigy測試解決方案，適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項目

時間：2025-10-11作者：深圳市歐奧電子科技有限公司瀏覽：296

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• Prodigy測試解決方案，適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項目

  印度Prodigy Technovations是MIPI和JEDEC 標準的貢獻成員，也是目前全世界排名**的UFS/UniPro協(xié)議分析儀(Analyzer)及訓練器（Exerciser）的測試廠商，為復雜的系統(tǒng)級芯片（SoC）設計的半導體客戶提供**和快速的測試解決方案。Prodigy**的測試解決方案，適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項目，尤其適用于對驗證效率和接口靈活性有

• 使用 PGY-PCIeLP-SBA 對 PCIe 接口進行邊帶信號分析

  芯片供應商需要驗證 DUT 不同狀態(tài)下邊帶信號的電氣時序測量，并查看長期一致性。為了滿足這一要求，Prodigy Technovations 開發(fā)了?PCIe邊帶信號分析儀。它監(jiān)控這些信號并提供多周期運行中測量的統(tǒng)計信息，以確保穩(wěn)定可靠的運行。PGY-PCIeLP-SBA 包括 discovery 系列邏輯分析儀（掌上大?。?，帶有用于 REFCLK 的 PCIe 邊帶信號分析的定制邏輯、

• 示波器測試與協(xié)議分析儀測試的區(qū)別

  示波器測試與協(xié)議分析儀測試是電子通信領域中兩種互補但**目標差異顯著的測試手段，主要區(qū)別體現(xiàn)在測試對象、**功能、關注重點、應用場景等多個維度。以下從具體維度詳細對比：一、測試對象不同示波器：聚焦于物理層的電信號（或光信號的電轉(zhuǎn)換信號），直接測量電壓、電流等物理量隨時間的變化。 例如：電路板上的脈沖信號、總線的差分電壓（如 USB 的 D+/- 信號）、射頻信號的波形等。協(xié)議分析儀：聚焦于協(xié)議層的

• PCIe 協(xié)議分析儀

  PCIe 協(xié)議分析儀 PGY-PCIeGen3/4-PA 是Prodigy公司推出較新款的PCIe 協(xié)議分析儀，支持較高 PCIe Gen4 速度，輕松覆蓋2.5、5.0、8 和 16GT/s物理信號捕捉并譯碼，記錄數(shù)據(jù)事件軌跡和自動生成測試報告，滿足工程師研發(fā)和測試要求。此外，Prodigy提供在源端與終端間使用interposer方案，方便用戶焊接。 PCIe Gen4 協(xié)議分析儀的軟件支持傳