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I3C CTS (Conformance Testing Suite)一致性測試套件 如何測試 I3C 器件的互作性或一致性測試?
I3C協(xié)議勢頭強(qiáng)勁,將成為汽車、數(shù)據(jù)和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過去 3 年中增長了 3 倍,預(yù)計未來十年增長將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長,傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送較高的性能以及較好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢·??&nb
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC焊接問題有哪些注意事項
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題時,需兼顧硬件連接的可靠性、信號分析的準(zhǔn)確性和調(diào)試邏輯的嚴(yán)謹(jǐn)性,避免因操作不當(dāng)導(dǎo)致誤判或遺漏問題。以下是關(guān)鍵注意事項:一、硬件連接與探針設(shè)置:避免“檢測工具引入新問題”探針接觸必須可靠,排除“假陽性”干擾焊接問題的**是“物理連接異?!?,若分析儀探針與SPMI引腳接觸不良(如探針未壓緊、探針頭氧化),會導(dǎo)致信號捕獲失真(如波形毛刺、信號丟失),易被誤判為焊接問題。
PCIe 協(xié)議分析儀 PGY-PCIeGen3/4-PA 是Prodigy公司推出較新款的PCIe 協(xié)議分析儀,支持較高 PCIe Gen4 速度,輕松覆蓋2.5、5.0、8 和 16GT/s物理信號捕捉并譯碼,記錄數(shù)據(jù)事件軌跡和自動生成測試報告,滿足工程師研發(fā)和測試要求。此外,Prodigy提供在源端與終端間使用interposer方案,方便用戶焊接。 PCIe Gen4 協(xié)議分析儀的軟件支持傳
UFS協(xié)議分析儀是針對通用閃存存儲(UFS)接口開發(fā)的測試工具,主要用于解析UFS、MIPI M-PHY和UniPro協(xié)議層的通信數(shù)據(jù),支持從物理層到應(yīng)用層的全鏈路分析。以下是其主要案例及應(yīng)用范圍的詳細(xì)解析:一、典型應(yīng)用案例1.移動設(shè)備研發(fā)與測試l?華為Mate系列手機(jī):在研發(fā)UFS 3.0存儲模塊時,華為使用Prodigy的UFS 3.0協(xié)議分析儀進(jìn)行長時間數(shù)據(jù)抓?。ㄈ邕B續(xù)運行5小時以
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗證

100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀

Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片研發(fā)測試驗證

Prodigy SD eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS芯片研發(fā)測試驗證

Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀

歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡

歐奧一鍵式全自動進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料

歐奧原子級分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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