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非飽和加速壽命試驗箱(又名PCT加速老化試驗機(jī))主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度/濕度及壓力下測試,濕氣會沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗的目的:提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度、氣壓)與工作應(yīng)力(如:電壓、負(fù)荷等)加快試驗過程,縮短產(chǎn)品的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析電子元器件、機(jī)械零件等的
用過恒溫試驗箱的用戶都知道恒溫試驗箱在做濕度測試時,需要加入蒸餾水,蒸餾水主要用于做濕度測試時用到,如果只是做濕度測試(如高溫、低溫)時,是不需要用到水的,那么有些用戶就疑問了:恒溫試驗箱做高溫測試時,水需要放出來嗎?還是留在水箱里面?、、?? ? ? ?多年的生產(chǎn)經(jīng)驗告訴您:不需要的。在做濕熱測試時需要往水箱裝水,通過抽水泵將水引入到試驗箱進(jìn)行濕
物理原理出發(fā),為什么芯片等半導(dǎo)體等電子元件不能忍受高溫(100℃左右)?溫度會影響很多很多參數(shù),它們會對電路的各個方面產(chǎn)生影響。zui大的問題就是電路延遲。溫度會影響半導(dǎo)體器件的遷移率和閾值電壓,但是這兩者和溫度的關(guān)系很復(fù)雜,而且不同材料的不同摻雜也會影響溫度效應(yīng)。通常情況下,在接近室溫的情況下,遷移率和閾值都會隨著溫度的上升而降低,總體上來說,溫度的上升會造成電路延時的增加。一旦延時過高,部分電
環(huán)境試驗中凝露問題淺析 1 前言 環(huán)境試驗做為檢驗提高電子產(chǎn)品可靠性的一種常用手段,廣泛用于電子產(chǎn)品的各個研發(fā)周期。用于確 定通訊設(shè)備對環(huán)境的適應(yīng)性。在環(huán)境試驗過程中根據(jù)產(chǎn)品的特性,選擇合適的試驗方法,對產(chǎn)品的機(jī)械性 能、電氣性能、物理性能、材料的抗拉強(qiáng)度和抗張力變化、絕緣性能等作出檢驗和評估。只有選擇正確的 試驗方法和標(biāo)準(zhǔn)的試驗條件下,才能得出正確的試驗結(jié)果。在恒定濕熱過程中,要預(yù)熱產(chǎn)品,避免大
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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