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詞條說明
? ? ? ?在實際應(yīng)用中,電子元件往往會受到高、低溫、濕、熱等環(huán)境因素的影響。為了確保電子元件在使用過程中的可靠性,必須對其進行高、低溫、高濕、高濕測試。? ? ? ?高、低溫、高、低溫度、高、中、低、中、高溫度、高濕度、高濕度等環(huán)境因素對器件性能的影響。該測試方法能對電子元件在不同的工作條件下的工作狀態(tài)進行仿真,并
真空熱試驗?zāi)M ? 為了檢驗衛(wèi)星各子系統(tǒng)的電性能并消除其相互的干擾, 需對衛(wèi)星上廣泛使用的半導體器件進行老化試驗處理, 后來又出現(xiàn)了熱應(yīng)力篩選試驗。所謂熱應(yīng)力篩選試驗, 就是在常溫、常壓下進行熱循環(huán)試驗, 將潛在的失效通過加大熱應(yīng)力的辦法將其顯現(xiàn)出來并加以消除, 使器件的失效進入穩(wěn)定過渡期, 最后在壽命終比前又出現(xiàn)失效高發(fā)期。這樣就形成了一浴盆曲線, 即早期和晚期是事故高發(fā)期, 中期是
廣東宏展儀器應(yīng)邀參加2022中國光網(wǎng)絡(luò)研討會
2022年8月3日*22屆2022中國光網(wǎng)絡(luò)研討會在北京新青海喜來登酒店盛大開幕,廣東宏展儀器受邀參加大會,本次大會匯聚行業(yè)產(chǎn)業(yè)鏈及各大院校,為尋求產(chǎn)學研融合,共同探討光通信技術(shù)更大市場機遇,助力光通信產(chǎn)業(yè)及其智能化的產(chǎn)業(yè)提升,廣東宏展應(yīng)邀出席本次研討會!北京大學信息科學技術(shù)學院現(xiàn)代通信研究所教授周國平發(fā)表講話,他介紹了光電子芯片的發(fā)展歷程,從1950年發(fā)展至今,光電子芯片不斷更新?lián)Q代,如今已經(jīng)成
鹽霧試驗是一種利用鹽霧試驗設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來確認產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗。試驗的嚴苛程度取決于曝露持續(xù)時間。實驗室常用的測試標準:GB/T 2423.17,IEC60068-2-11,GB/T 10125,ISO 9227,ISO4628-3, ASTM B117, JIS-Z2371, JIS-G3141, GJB 150.1, MIL-STD-810F, MIL-ST
公司名: 廣東宏展科技有限公司
聯(lián)系人: 曾小姐
電 話: 18688888287
手 機: 18688888287
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地 址: 廣東東莞常平Lab Companion Park
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網(wǎng) 址: hongzhan.cn.b2b168.com
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