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【相控陣探傷儀】相控陣超聲波探傷比普通超聲波有哪些優(yōu)點
相控陣超聲波探傷比普通超聲波有哪些優(yōu)點 超聲波相控陣和常規(guī)超聲波檢測得原理相似,都是基于脈沖反射法的原理。所以常規(guī)超聲波檢測擁有的優(yōu)點,相控陣也擁有。如果相控陣和常規(guī)超聲波擁有的優(yōu)點相同,那沒必要發(fā)展相控陣。所以相控陣相對常規(guī)超聲波優(yōu)點還是蠻多的。(1)相控陣采用S掃,即同時可以擁有許多角度的超聲波,就相當于擁有多種角度的探頭同時工作,所以相控陣無需鋸齒掃查,只要沿著焊縫挪動探頭即可,檢測效率高
日祥檢測 | 奧林巴斯新品發(fā)布A36探頭強悍登場,助力洞悉深層缺陷
在檢測過程中,針對于大壁厚(如200mm)的焊縫檢測,往往對于檢測設(shè)備有著高層次的要求。為了好的面對在檢測時遇到的各種復(fù)雜情況及調(diào)整,基于A26 DLA 探頭成功的應(yīng)用實踐基礎(chǔ)上,Evident在近期發(fā)布了全新A36雙晶64晶片線性探頭。日祥銷售的Evident 奧林巴斯全新A36雙晶64晶片線性探頭的推出,將在大壁厚情形下,協(xié)助塑造為的焊縫檢測解決方案。強穿透力日祥銷售的Evident 奧林巴斯
相控陣探傷儀通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間,從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間,從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。TOFD探傷儀,TOFD證書,測厚儀,粗糙度儀,硬度計,紅外線測溫儀,紅外線熱像儀等儀表設(shè)備產(chǎn)品。常見的探頭陣列幾何外形如下:線形陣1.維線形陣2.維矩形陣圓形陣1.維環(huán)形陣2.維扇形陣技術(shù)優(yōu)勢1
影響超聲波測厚儀示值的因素(1)工件表面粗糙度過大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無法接收到回波信號。對于表面銹蝕,耦合效果差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面進行處理,降低粗糙度,同時也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬光澤,使探頭與被檢物通過耦合,劑能達到很好的耦合效果。(2)工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測厚時,因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點接觸或線接觸,聲
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