環(huán)境可靠性試驗測試機構(gòu)講解環(huán)境試驗的試驗方法

時間：2019-06-26作者：廣東蘇試廣博測試技術(shù)有限公司瀏覽：218

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• 環(huán)境可靠性試驗公司講述環(huán)境可靠性試驗的分類

  根據(jù)環(huán)境可靠性試驗公司的闡述，環(huán)境可靠性試驗的分類有： 1、氣候環(huán)境試驗 (GB2423，GJB150A，GJB4，IEC60068、GJB1032，GJB322A，GJB360A，GJB548，GB4208，GJB899，TB3021等) A.溫度試驗：高溫試驗、低溫試驗、溫度沖擊試驗、溫度變化試驗、快速溫度變化試驗(溫度變化速率可達15度/min)、高溫老化試驗，溫度循環(huán)試驗。 B.濕度(潮

• 氙燈老化測試機構(gòu)淺談氙燈老化測試的應(yīng)用領(lǐng)域

  根據(jù)氙燈老化測試機構(gòu)的闡述，氙燈老化測試一種測試儀器，至于應(yīng)用領(lǐng)域請看下述內(nèi)容： 以長弧氙燈為光源，模擬和強化耐候性加速老化的試驗，特別適用于各種塑料、油漆、涂料、汽車內(nèi)飾件、土工布、紡織品、染料、皮革、電工電子產(chǎn)品、彩色建材，電線電纜等材料的模擬日光光照人工老化試驗。通過設(shè)定光輻照度、溫度、濕度、淋雨等條件，提供實驗所需的模擬自然環(huán)境，以測試材料的顏色褪色、老化、透過率、剝離、硬化、軟化、龜裂

• 東莞第三方檢測機構(gòu)淺談電子元器件可靠性檢測項目

  物理特性測試項目 1、內(nèi)部水汽：確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。 2、密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。 3、ESD闊值：確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和敏感性。 4、可燃性：確定光電子器件所使用材料的可燃性。 5、剪切力：確定光電子器件的芯片和無源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。 6、可焊性：確定需要焊接的光電子器件引線

• 可靠性試驗檢測機構(gòu)介紹手機生產(chǎn)廠家全程可靠性檢測方案

  1、可程式恒溫恒濕箱(整機耐濕熱、高溫老化、冷溫儲存試驗)-70~150℃。 2、冷熱沖擊試驗箱(用于產(chǎn)品研發(fā)，整機、電路板及電子元件篩選)低溫-70℃高溫150℃。 3、靜電放電發(fā)生器(用于產(chǎn)品研發(fā)，電路板上電子元件在儲運、裝配及較為干燥環(huán)境使用時，可能因靜電導(dǎo)致?lián)p壞)靜電電壓20KV(正、負)。 4、鹽霧試驗箱(用于模擬手機真實使用情況耐汗、潮濕及含鹽環(huán)境)。 5、紫外燈(UV)試驗箱(用于