溫度試驗這些知識，研發(fā)都該知道！

時間：2025-10-28

作者：武漢市鑫宇環(huán)檢測技術(shù)有限公司

詞條
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HAST試驗的測試標準和試驗方法
??HAST試驗是高加速溫濕度應(yīng)力測試，也稱高壓蒸煮試驗是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件性測試方法。其目的是通過將測試室中的水蒸氣壓力增加到測試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的高水平來評估測試樣品的耐濕性。????????HAST測試標準與高溫/高濕測試（85°C/85% RH）相比，HAST 由于濕
為什么要做低氣壓試驗？
? ??低氣壓試驗是用設(shè)備模擬高空氣壓環(huán)境，將試驗樣品放入試驗箱（室），然后將箱（室）內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標準規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。試驗?zāi)康募从脕泶_定元件、材料、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性、耐電擊穿能力；確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力；檢驗低氣壓對元件工作特性的影響及低氣壓下的其他效應(yīng)；有時候可用于確定機電元件的耐久性。主要適用
提個醒！長假后回到實驗室要注意這些
8天長假就結(jié)束了！大部分實驗室要開始復工啦！回到實驗室，**件事當然是打開儀器，可是休了一個長假的儀器跟你一樣，可能也有“節(jié)后綜合征”，搞不好會鬧別扭的，那么如何正確打開你的儀器呢？液相色譜儀開機順序： 1．檢查溶劑托盤托盤上的溶劑是否足量，以溶劑液面**過過輸液管過濾頭5厘米以上為宜。 2．檢查輸液管內(nèi)部有否氣泡，若有，應(yīng)及時通過排液閥排出。 3．對溶劑（針對*1項看是否需要補充溶劑）和樣品
元器件的失效原因和故障檢查方法
電子元器件在使用過程中，常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。電子設(shè)備*部分故障，究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及時定位到元器件的故障原因，就能及時排除故障，讓設(shè)備正常運行。 ?溫度導致失效：元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對元器件的影響。 ?溫度變化對半導體器件的影響：由于P