鍍鎳測(cè)厚儀優(yōu)勢(shì)及維修問題

時(shí)間：2023-02-23作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：107

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

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  詞條說明

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  江蘇一六儀器生產(chǎn)的XAD系列熒光光譜儀是一款上照式全元素光譜儀，可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及多元素成分分析，**的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。1. 微小樣品檢測(cè)：較小測(cè)量面積0.008mm2 ;2. 變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm ;3. *的EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3

• 如何為線路板選擇合適的鍍層分析儀

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  一六儀器是一家專注于光譜測(cè)量領(lǐng)域的儀器制造商，其生產(chǎn)的一機(jī)多用光譜測(cè)厚儀具有多種功能和應(yīng)用領(lǐng)域。下面將介紹一下一六儀器一機(jī)多用光譜測(cè)厚儀的主要檢測(cè)功能。一六儀器一機(jī)多用光譜測(cè)厚儀可以用于薄膜厚度測(cè)量。薄膜是一種常見的材料，廣泛應(yīng)用于電子、光學(xué)、醫(yī)療等領(lǐng)域。這款儀器可以通過光學(xué)原理和光譜分析技術(shù)，準(zhǔn)確測(cè)量薄膜的厚度。用戶只需要將待測(cè)薄膜放置在儀器上，儀器會(huì)自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量并給出。一六儀器一機(jī)多用光譜測(cè)厚