客戶采購光譜測厚儀較想了解的問題

時(shí)間：2023-06-19作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：95

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測厚儀等

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  詞條說明

• 深圳光譜鍍層測厚儀通過這些方法避免誤差

  光譜鍍層測厚儀是將光打到樣品上時(shí)，樣品分子會(huì)使入射光發(fā)生散射，若部分散射光的頻率發(fā)生改變，則散射光與入射光之間的頻率差。本儀器主要就是通過確定物質(zhì)的分子結(jié)構(gòu)，針對固體、液體、氣體、**物、高分子等樣品均可以進(jìn)行定性定量分析。 接下來和一六一起了解光譜鍍層測厚儀通過這些方法避免誤差。盡管光譜鍍層測厚儀具有很高的精度，但是由于許多因素的影響，仍然存在一定的誤差，那么如何才能巧妙地避免本儀器的誤差呢?1

• XU-100光譜測厚儀相比其他品牌測厚儀有哪些優(yōu)勢？

  XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。檢測各種金屬鍍層，檢出限可達(dá)0.005μm,較近測距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi)，凹槽深度測量范圍可達(dá)030mm,是一款測量鍍層厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型。① 下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對焦樣品。② 高精密微型移動(dòng)滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。③ 微焦X

• EDXRF測厚儀的用途及如何劃分

  EDXRF測厚儀可用于檢測多層的成分及厚度，除了計(jì)算單層物質(zhì)的成分分析還要去計(jì)算多層成分及厚度，同時(shí)會(huì)遇到微小的樣品位置、復(fù)雜的樣品的形狀(改變形狀再測試厚度會(huì)變化)、上下層有相同元素等等檢測難題，所以它比其它EDXRF應(yīng)用較加復(fù)雜，這也是為什么EDXRF做ROHS重金屬、合金分析、貴金屬檢測等等的廠家很多，做測厚儀的很少、做得很好的**的原因。那測厚儀應(yīng)該如何劃分呢?跟著測厚儀廠家一六儀器來

• 一六儀器|XD-1000上照式光譜測厚儀的八大優(yōu)勢

  XD-1000上照式光譜測厚儀，對各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種**大件、異形凹槽件、微小密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件，如線路板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等。接下來和一六一起了解XD-1000上照式光譜測厚儀的八大優(yōu)勢。XD-1000上照式光譜測厚儀的八大優(yōu)勢：可靠的高性能測試精度、穩(wěn)定性高，在提供高質(zhì)量的同時(shí)減少浪費(fèi)和停機(jī)時(shí)間。較高的性價(jià)比制造工藝升級，較具性價(jià)比，大大