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詞條說明
1.按入射光束數(shù)可分:實驗室單光束原子吸收光譜儀和實驗室雙光束原子吸收光譜儀;2.按原子化方式可分:實驗室火焰原子吸收光譜儀和實驗室石墨爐原子吸收光譜儀等;3.按背景扣除方法可分:實驗室氘燈扣背景原子吸收光譜儀和實驗室塞曼扣背景原子吸收光譜儀等;4.按分析對象的屬性可分:實驗室無機物原子吸收光譜儀和實驗室**物原子吸收光譜儀;5.按應(yīng)用范圍可分:**型實驗室原子吸收光譜儀和通用型實驗室原子吸收光譜
膜厚測試儀:工業(yè)制造的"火眼金睛"在精密制造領(lǐng)域,膜厚測試儀扮演著至關(guān)重要的角色。這種看似不起眼的檢測設(shè)備,卻能在微觀尺度上精確測量各類薄膜的厚度,為產(chǎn)品質(zhì)量保駕**。無論是半導(dǎo)體芯片上的納米級薄膜,還是汽車噴漆表面的涂層,都逃不過它的"法眼"?,F(xiàn)代膜厚測試技術(shù)主要分為接觸式和非接觸式兩大類。接觸式測量采用機械探針直接接觸樣品表面,雖然精度高但*劃傷敏感材料。非接觸式則利用光學(xué)、超聲波或渦流等
鍍層厚度測量的關(guān)鍵技術(shù)與方法 鍍層厚度直接影響產(chǎn)品的耐腐蝕性、導(dǎo)電性和外觀質(zhì)量,精準(zhǔn)測量是工業(yè)制造中的重要環(huán)節(jié)。目前常見的測量技術(shù)包括磁性法、渦流法、X射線熒光法等,每種方法各有特點。 磁性法適用于鋼鐵基體上的非磁性鍍層測量,如鍍鋅、鍍鉻等。這種方法操作簡單,成本較低,但對基體材質(zhì)有特定要求。渦流法則更適合非鐵金屬基體上的絕緣鍍層檢測,例如鋁合金表面的陽極氧化層。X射線熒光法精度較高,能同時分析鍍
鍍層膜厚測量技術(shù)的關(guān)鍵要點在工業(yè)制造領(lǐng)域,鍍層膜厚的精確測量直接影響產(chǎn)品質(zhì)量。X射線熒光法是目前應(yīng)用較廣泛的技術(shù)之一,其原理是通過測量鍍層材料受激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線強度來確定厚度。這種方法具有非破壞性特點,適用于多種金屬鍍層的測量。電化學(xué)測厚法通過測量鍍層溶解所需電量來計算厚度,操作簡便但會對樣品造成破壞。磁性測厚儀利用鍍層與基體磁導(dǎo)率差異進(jìn)行測量,特別適用于鋼鐵基體上的非磁性鍍層。渦流測厚儀則
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ROHS測試儀器 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內(nèi)對樣品進(jìn)行分析

ROHS有害物質(zhì)分析儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內(nèi)對樣品進(jìn)行分析

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ROHS環(huán)保檢測儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內(nèi)對樣品進(jìn)行分析
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