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原子吸收光譜分析(又稱原子吸光光度計分析)是光源輻射出待測元素的特征光波通過高溫樣品的蒸汽時,被蒸汽中待測元素的原子所吸收輻射光波強度減弱的程度求出樣品中待測元素的含量。原子吸收光譜的產(chǎn)生在于物質(zhì)的原子中電子按一定的軌道繞原子旋轉(zhuǎn),各個電子的運動狀態(tài)是由4個**數(shù)來描述。不同**數(shù)的電子具有不同的能量,原子的能量為其所含電子能量的總和。原子處于完全游離狀態(tài)時,具有較低的能量稱為基態(tài)。在熱能、電能或
原子吸收光譜儀由以下四部分組成1.光源系統(tǒng):空心陰極燈2.原子化系統(tǒng):火焰原子化器;石墨爐原子化器或氫化物發(fā)生器。3.分光系統(tǒng):單色器4.檢測系統(tǒng):光電倍增管等一、光源系統(tǒng):原子吸收光源應滿足以下條件1.能輻射出半寬度比吸收線半寬度還窄的譜線,并且發(fā)射線的中心頻率應與吸收線的中心頻率相同。2.輻射的強度應足夠大。3.輻射光的強度要穩(wěn)定,且背景小。原子化器是將樣品中的待測組份轉(zhuǎn)化為基態(tài)原子的裝置。二
電鍍膜厚分析儀的核心技術(shù)與應用價值 電鍍膜厚分析儀在工業(yè)生產(chǎn)中扮演著關(guān)鍵角色,尤其是在電子、汽車、航空航天等領域,精準的膜厚測量直接影響產(chǎn)品質(zhì)量。這類儀器通過X射線熒光(XRF)、渦流檢測或光學干涉等技術(shù),快速測量金屬鍍層的厚度,確保產(chǎn)品符合工藝標準。 核心技術(shù)解析 XRF技術(shù)是目前應用較廣泛的一種,通過X射線激發(fā)鍍層原子,測量其釋放的熒光能量,從而計算膜厚。這種方法非破壞性、精度高,適用于多種
電鍍鍍層測試儀:工業(yè)品質(zhì)的"守門人"電鍍鍍層測試儀是現(xiàn)代制造業(yè)中不可或缺的精密檢測設備,它如同一位嚴謹?shù)?官,守護著產(chǎn)品表面的每一寸鍍層質(zhì)量。這種儀器通過非破壞性檢測方式,能夠快速準確地測量鍍層厚度、成分及均勻性,為電鍍工藝提供可靠的數(shù)據(jù)支持。電鍍鍍層測試儀的核心技術(shù)在于其精密的傳感系統(tǒng)和智能分析算法。X射線熒光光譜法和渦流檢測法是兩種主流檢測原理,前者適用于多種金屬鍍層的成分分析,后者則在導
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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ROHS測試儀器 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內(nèi)對樣品進行分析

ROHS有害物質(zhì)分析儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內(nèi)對樣品進行分析

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