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微透鏡陣列的應(yīng)用現(xiàn)在非常廣泛,小到打印機,大到科研,醫(yī)療,工業(yè)。在不同應(yīng)用的環(huán)境下,需要使用不同結(jié)構(gòu)的微透鏡,本文給出了微透鏡陣列的種類介紹不同種類的圖片。。從外形上看,微透鏡陣列可以分為凸面微透鏡和凹面微透鏡,具體又可分為凸面微透鏡陣列,凹面微透鏡陣列,凸面柱面微透鏡陣列,凹面柱面微透鏡陣列,單凸微透鏡和單凹微透鏡。微透鏡陣列的排列方式又可分為單個排列,單行或單列排列,正方形排列,六邊形排列,隨
Prior旗下Queensgate團隊正在利用NPL在光學干涉計量方面的尖端能力,來支持內(nèi)部的品質(zhì)**計劃。納米定位專家?Queensgate?和英國國家物理實驗室?(NPL)?建立了富有成效的合作,為?Queensgate?內(nèi)部的產(chǎn)品測試和測量計劃提供了良好的實踐實施模型英國高精度納米定位產(chǎn)品制造商Queensgate與英國國家物理實驗
選擇了六個在極紫外光譜中具有有用帶通的涂層進行研究:鋁、鋁/碳,鋁/碳/鈧,鈦,錫,和銀。這些濾波片通常用于0.1至80納米的區(qū)域,并有10到50納米的帶通。濾光材料涂層是由有經(jīng)驗的無支架濾光片供應(yīng)商在晶圓上涂抹的,以確保光學質(zhì)量是最先進的。涂層和非涂層光電二極管的輻射測量是通過美國國家標準技術(shù)研究所(NIST)的極紫外探測器標準進行的。該設(shè)施同時利用了NIST電子存儲環(huán)同步輻射源、SURF II
Opto diode多層濾光薄膜在17-150 ?波段的硅光電二極管的特性表征描述
JF Seely,RS Korde,J Wise對采用薄膜沉積從而具有多層薄膜濾光片的硅光電二極管探測器使用同步輻射進行了表征描述。Opto diode多層膜結(jié)構(gòu)有金屬薄膜和其他材料組成,被設(shè)計用于提供波長帶通在17到150埃的波長范圍(極紫外),實際測量的薄膜透過率和計算的理論透過率具有良好的一致性。建??紤]了多層薄膜的透過率和在硅基底的底層的輻射能量的沉積,用下述襯底材料制成的探測器也進行了表
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