ISO7253鹽霧測(cè)試

時(shí)間：2025-06-13作者：無錫瀚科檢測(cè)有限公司瀏覽：9

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• 詞條

  詞條說明

• 簡(jiǎn)述環(huán)境可靠性檢測(cè)的定義

  ?環(huán)境可靠性檢測(cè)是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證。? ? ? ?通常環(huán)境可靠性檢測(cè)分為以下三類：力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)、氣候環(huán)境試驗(yàn)和綜合環(huán)境試驗(yàn)。力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)主要包括機(jī)械振動(dòng)、機(jī)械沖擊、跌落、碰撞、穩(wěn)態(tài)加速度試

• 分析檢測(cè)出汽車零部件出現(xiàn)氣孔的原因

  汽車零部件鑄件是用各種鑄造方法獲得的金屬成型物件，即把冶煉好的液態(tài)金屬，用澆注、壓射、吸入或其它澆鑄方法注入預(yù)先準(zhǔn)備好的鑄型中，冷卻后經(jīng)打磨等后續(xù)加工手段后，所得到的具有相應(yīng)形狀，尺寸和性能的物件。那么，如果鑄件表面出現(xiàn)氣孔，是什么原因形成的呢？? ? ? ?特征：氣孔是存在于鑄件表面或內(nèi)部的孔洞，呈圓形、橢圓形或不規(guī)則形，有時(shí)多個(gè)氣孔組成一個(gè)氣團(tuán)，皮下一般

• 抗氫致開裂（ HIC )、

  氫致開裂：金屬材料的隱形**在石油天然氣、化工等工業(yè)領(lǐng)域，氫致開裂（HIC）是困擾工程師多年的材料失效問題。這種由氫原子滲透引發(fā)的材料破壞現(xiàn)象，往往在毫無征兆的情況下突然發(fā)生，造成災(zāi)難性后果。氫致開裂的本質(zhì)是氫原子在金屬晶格中的擴(kuò)散和聚集。當(dāng)環(huán)境中的氫原子滲透進(jìn)入金屬內(nèi)部，會(huì)在應(yīng)力集中區(qū)域或材料缺陷處聚集，形成分子氫產(chǎn)生巨大壓力。這種壓力足以使金屬晶粒間的結(jié)合力減弱，較終導(dǎo)致微裂紋的萌生和擴(kuò)展。

• ISO16750溫度測(cè)試

  汽車電子元件溫度測(cè)試的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn) 溫度測(cè)試是汽車電子元件可靠性驗(yàn)證的**環(huán)節(jié)。在較端氣候條件下，電子設(shè)備必須保持穩(wěn)定運(yùn)行，這對(duì)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)提出了較高要求。ISO 16750作為汽車電子環(huán)境試驗(yàn)的**標(biāo)準(zhǔn)，詳細(xì)規(guī)定了溫度測(cè)試的各項(xiàng)參數(shù)和評(píng)估方法。 高溫測(cè)試模擬發(fā)動(dòng)機(jī)艙等惡劣環(huán)境，通常要求電子元件在85℃至125℃下持續(xù)工作數(shù)百小時(shí)。測(cè)試過程中需要監(jiān)測(cè)元件性能是否衰減，材料是否變形老化。低溫測(cè)試則驗(yàn)證設(shè)備