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高低溫測(cè)試機(jī)充電器-高低溫測(cè)試報(bào)告辦理中心
手機(jī)充電器高低溫測(cè)試高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度試驗(yàn);在自然環(huán)境中,溫度和濕度是不可分割的兩個(gè)自然因素,不同地區(qū)由于不同的地理位置,產(chǎn)生的溫度、濕度效
半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置的日常保養(yǎng)
半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置的日常保養(yǎng)?????用戶在使用半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置的時(shí)候,需要經(jīng)常對(duì)半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置進(jìn)行保養(yǎng)工作,使得半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置達(dá)到較好的運(yùn)行效果。打掃半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置表面及內(nèi)腔灰塵,保持機(jī)器干凈、衛(wèi)生。檢查電流表電流跟正常時(shí)是否一樣,如有異樣,通知維修工檢修。半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置突然停電,要把加熱開關(guān)
?高溫運(yùn)行(高溫貯存)的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的儲(chǔ)存、使用的適應(yīng)性及耐久性,確認(rèn)材料高溫下的性能,為能正確觀察與驗(yàn)證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng),同時(shí)避免因濕度效應(yīng)影響試驗(yàn)結(jié)果,標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求,高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能
如何正確進(jìn)行接觸電流(泄漏電流)能力驗(yàn)證計(jì)劃試驗(yàn)并提交結(jié)果?接觸電流(泄漏電流)能力驗(yàn)證計(jì)劃試驗(yàn)需要測(cè)試樣品A-L、A-N、B-L、B-N處的泄漏電流,并報(bào)出A-L端的泄漏電流,那么如何測(cè)試各個(gè)端點(diǎn)的泄漏電流并且報(bào)出正確的結(jié)果呢?圖例:泄漏電流測(cè)試盒觀點(diǎn)A:L-N端接入220V市電,并在通電后的任意時(shí)間內(nèi),利用泄漏電流儀測(cè)試各個(gè)端點(diǎn)的泄漏電流,并選擇L-A端的泄漏電流進(jìn)行數(shù)據(jù)報(bào)出。觀點(diǎn)B:L-N端
公司名: 深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司
聯(lián)系人: 蔡慧剛
電 話: 13378656621
手 機(jī): 13378656621
微 信: 13378656621
地 址: 廣東深圳寶安區(qū)北八路安樂工業(yè)園C棟2樓
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