太陽(yáng)能測(cè)試條件

時(shí)間：2016-11-17作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：134

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 宏展儀器|冷熱沖擊試驗(yàn)箱的三大原理

  冷熱沖擊箱有兩箱式與三箱式兩種類型，按介質(zhì)分類有液體沖擊箱、氣體沖擊箱和冰水沖擊箱三種類型。本文主要講解三箱式冷熱沖擊箱，該設(shè)備主要由低溫儲(chǔ)存室、高溫儲(chǔ)存室和沖擊溫度測(cè)試室組成，清楚冷熱沖擊箱三個(gè)箱式的運(yùn)作原理能協(xié)助我們科學(xué)操作、合理維護(hù)試驗(yàn)箱。（1）沖擊溫度測(cè)試室：由儀表自動(dòng)控制高低溫氣閥，在低溫或高溫儲(chǔ)存室之間切換，分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環(huán)系統(tǒng)，*達(dá)到試驗(yàn)的目標(biāo)溫度。（2）高溫儲(chǔ)

• P100溫濕度程序控制器的優(yōu)勢(shì)

  1.通訊與聯(lián)機(jī)控制·提供以太網(wǎng)來(lái)遠(yuǎn)程監(jiān)控和控制試驗(yàn)箱，隨時(shí)隨地可以用PC或PDA通過(guò)網(wǎng)絡(luò)監(jiān)測(cè)試驗(yàn)進(jìn)度。報(bào)警系統(tǒng)聯(lián)網(wǎng)后，可以通過(guò)郵件或短信通知您設(shè)備問(wèn)題，以方便快速反應(yīng)跟進(jìn)，節(jié)省您寶貴的時(shí)間。一鍵操作完成試驗(yàn)數(shù)據(jù)自動(dòng)通過(guò)電子郵件發(fā)送。2.數(shù)據(jù)記錄可記錄試驗(yàn)數(shù)據(jù)，包括文件名、批次、編號(hào)、操作者及數(shù)字量信號(hào)等，方便以后的查找與核對(duì)。并可提供多達(dá)30個(gè)操作者ID，并可以分配不同的操作權(quán)限。自動(dòng)化網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)備

• 半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個(gè)：1. 高溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：85℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h2. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：-40℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h3. 溫度循環(huán)測(cè)試條件：-40℃～85℃持續(xù)時(shí)間：200

• 半導(dǎo)體芯片用高低溫濕熱試驗(yàn)箱介紹

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱（也稱為溫濕度循環(huán)試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等）是一種專門用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 *42部分：溫濕度貯存主要技術(shù)參數(shù)：溫度范圍： -20℃~100℃（150℃）、-40℃~100℃（