高低速風(fēng)洞環(huán)境模擬風(fēng)洞實(shí)驗(yàn)室

時(shí)間：2016-12-23作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：533

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

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  詞條說明

• 芯片研發(fā)過程中的可靠性測試有哪些

  一、芯片可靠性測試比常見的幾種試驗(yàn)：加速測試：在半導(dǎo)體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數(shù)情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會(huì)改變觀察時(shí)間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測試是基于 JEDEC 的資質(zhì)認(rèn)證測試的關(guān)鍵部分。溫度循環(huán)：根據(jù) JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn)，溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受較端高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換。進(jìn)行該測試時(shí)，將部件反復(fù)暴露

• 幫您分析高低溫老化試驗(yàn)箱降溫過慢的原因

  在應(yīng)用高低溫老化試驗(yàn)箱的全過程中，碰到高低溫老化試驗(yàn)箱減溫慢、溫度降不下來、溫度達(dá)不上-40度這些，下邊為您一一分析高低溫老化試驗(yàn)箱減溫慢的緣故及解決方式： 高低溫老化試驗(yàn)箱 一般狀況下，高低溫老化試驗(yàn)箱是會(huì)依照設(shè)置的時(shí)間段，減溫到相對(duì)值，可是因?yàn)樵O(shè)備使用時(shí)間太長，或是實(shí)際操作不善，會(huì)造成高低溫老化試驗(yàn)箱減溫遲緩的狀況，如今就如何解決這一個(gè)難題開展技術(shù)性討論。 1，不確定常見故障緣故，融合實(shí)驗(yàn)處的

• 太陽能測試條件

  太陽能測試條件 ? 太陽能模塊可靠度試驗(yàn)(太陽能電池) ?? 目的：太陽光電模塊的設(shè)計(jì)使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗(yàn)是仿真陸上太陽光電模塊(硅結(jié)晶)的設(shè)計(jì)驗(yàn)證，讓模塊能夠在一般氣候下長期操作20年以上。 太陽能模塊試驗(yàn)規(guī)范列表： IEC6125-陸地用太陽能電器元件環(huán)境試驗(yàn)方法(GB-9535) GB 9535-陸地用太陽能電池元件環(huán)境試驗(yàn)方法 GB 19

• 高低溫沖擊試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī)

  高低溫沖擊試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī) 制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī) 為了保證高低溫沖擊試驗(yàn)箱降溫速率和較低溫度的要求，本試驗(yàn)箱采用一套進(jìn)口德國半封閉壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式水冷制冷系統(tǒng)（需在室外安裝每小時(shí)冷卻水量為10噸的循環(huán)冷卻水塔，由用戶提供）。復(fù)疊式制冷系統(tǒng)包含一個(gè)高溫制熱循環(huán)和一個(gè)低溫制冷循環(huán)，其連接容器為蒸發(fā)冷凝器，蒸發(fā)冷凝器是也到能量傳遞的作用，將工作室內(nèi)熱能通過兩級(jí)制冷系統(tǒng)傳遞出去，實(shí)現(xiàn)降溫的目的