電子開關(guān)短路失效分析，你了解么？

時間：2022-09-22

作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司

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詞條
詞條說明
計量設(shè)備校準的常見誤區(qū)與解決方法
計量設(shè)備校準的三大誤區(qū)及應(yīng)對策略計量設(shè)備的校準是確保測量結(jié)果準確性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，但在實際操作中，許多企業(yè)或技術(shù)人員容易陷入誤區(qū)，導致校準效果不佳，甚至影響后續(xù)生產(chǎn)或檢測的可靠性。以下是常見的校準誤區(qū)及解決方法。誤區(qū)一：校準周期一刀切許多單位習慣對所有計量設(shè)備采用相同的校準周期，比如統(tǒng)一設(shè)定為一年一次。這種做法看似方便，實則忽略了設(shè)備的使用頻率、環(huán)境條件及自身穩(wěn)定性。高頻使用的設(shè)備可能因磨損導致
工業(yè)CT掃描技術(shù)在電子行業(yè)的技術(shù)及應(yīng)用
X射線的本質(zhì)，實為一種波長極短的電磁輻射，擁有卓越的穿透力。當它照射物體時，部分能量被物質(zhì)吸收，而大部分射線則巧妙穿越原子間隙，歷經(jīng)衰減后，終被探測器捕獲。隨后，通過工作站的數(shù)據(jù)重建技術(shù)，精準構(gòu)建出三維模型?；诖耍珻T檢測在電子行業(yè)已晉升為不可或缺的無損檢測利器。利用掃描數(shù)據(jù)，無論是微小零部件還是龐大整機，我們都能輕松實現(xiàn)其三維微觀結(jié)構(gòu)的全面掃描。進一步深入分析，可揭示樣品內(nèi)部的三維尺寸、孔隙度
關(guān)于冷熱沖擊測試的較詳細的解釋
1 引言各種標準中的冷熱沖擊測試源自IEC 60068-2-14測試方法N：Na在溫度變化中。特定時間內(nèi)的快速溫度變化測試。2 定義快速的溫度變化在特定時間內(nèi)進行。轉(zhuǎn)換時間一般為手動2~3分鐘，自動小于30秒，小試件小于10秒。通俗地說，溫度沖擊試驗也屬于冷熱沖擊試驗。3 目的和適用范圍這是一種加速測試，用于模擬車輛中的大量慢速溫度循環(huán)。與實際車輛溫度循環(huán)相對應(yīng)，以更快的溫度變化速率和更寬的溫度變
跳動與同心度/同軸度有什么區(qū)別呢？
在幾何公差中，跳動度和同心度/同軸度都需要關(guān)聯(lián)基準，都是用來控制同心/同軸要素，那么它們之間存在什么區(qū)別呢？圖片??以一個徑向截面為例，實際上跳動度綜合了圓度和同軸度偏差；（1）假如被測截面圓度完美，只有同軸度偏差，則徑向跳動度測量值=被測軸偏心值的2倍=同軸度測量值，這種情況下跳動度=同軸度；（2）假如被測截面的軸心與基準軸完美重合，只有圓度誤差，則徑向跳動度是由圓度誤差引起