X光鍍層測(cè)厚儀在日常作業(yè)中都應(yīng)用了哪些原理？

時(shí)間：2022-06-12作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：309

蘇州實(shí)譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測(cè)儀器等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 分析X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理及特點(diǎn)

  ? ? ? X-RAY鍍層測(cè)厚儀是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過(guò)使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。 X-RAY鍍層測(cè)厚儀的工作原理：? ? ? ?鍍層

• 詳細(xì)解析x熒光鍍層測(cè)厚儀的應(yīng)用和性能

  ? x熒光鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分和濃度測(cè)定。? ? ? x熒光鍍層測(cè)厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光信號(hào)

• 有關(guān)x射線鍍層測(cè)厚儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，以下有詳細(xì)解說(shuō)

  ? ? ? x射線鍍層測(cè)厚儀采用內(nèi)置探頭一體化設(shè)計(jì)、抗干擾技術(shù)、數(shù)字顯示，具備機(jī)型小巧、操作簡(jiǎn)捷、待機(jī)時(shí)間長(zhǎng)等特點(diǎn)；且具有自動(dòng)關(guān)機(jī)、欠電指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能。它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。x射線鍍層測(cè)厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成如下： 1、

• 分享一些有關(guān)“X光鍍層測(cè)厚儀”的使用特點(diǎn)

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀 向微型、