晶圓表面制備分析

時間：2023-06-08作者：英格爾檢測技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司瀏覽：82

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• 詞條

  詞條說明

• 半導(dǎo)體材料分析方法與標(biāo)準(zhǔn)

  半導(dǎo)體電子元器件在生產(chǎn)制造過程中會遇到不同程度的化學(xué)品污染及外界干擾，例如晶圓表面會遇到本可以避免的刻蝕，以及難以去除的化合物等。英格爾半導(dǎo)體材料分析實驗室可通過測試樣品中涉及的顆粒物、金屬離子、陰陽離子等化學(xué)指標(biāo)達到生產(chǎn)測試目的。?1.英格爾半導(dǎo)體材料分析實驗室：潔凈化學(xué)實驗室設(shè)計是一項復(fù)雜的系統(tǒng)工程，與其他潔凈室不同，它所要求的不僅僅是顆粒物，同時還需要對**污染物、金屬污染等進行管

• 未知成分分析

  未知成分分析例如未知礦物分析、**藥物有效成分分析與結(jié)構(gòu)確認(rèn)、未知分子結(jié)構(gòu)與原子價態(tài)分析、未知藥物和藥物中間體結(jié)構(gòu)分析與確認(rèn)、化工過程未知產(chǎn)物分析、化工雜質(zhì)分析等,綜合考慮并采取不同的分離、物理提純、化學(xué)技術(shù)和方法將未知物樣品中的各個組分分離開并進行純化,然后分別采用不同的分析儀器設(shè)備對其進行分析、鑒定成分進行定性和定量分析。英格爾自創(chuàng)立以來始終從事未知成分分析、工業(yè)診斷、元素離子檢測和各類分析儀

• 半導(dǎo)體離子質(zhì)譜儀材料檢測機構(gòu)

  半導(dǎo)體離子質(zhì)譜儀材料檢測機構(gòu)半導(dǎo)體行業(yè)的材料產(chǎn)出與材料品質(zhì)需經(jīng)過多道精密的檢測步驟，其中英格爾半導(dǎo)體離子質(zhì)譜儀可提供專業(yè)幫助。當(dāng)前英格爾離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）具備針對微區(qū)**污染分析手段與能力，在發(fā)生PCB表面異常情況下，通過英格爾豐富的數(shù)據(jù)庫進行對比可掌握污染物成分，實施污染物辨別技術(shù)判斷來源可能。（1）PCB上的硅油殘留污染分析英格爾檢測：硅油具有絕緣介質(zhì)的特性，廣泛運用于電子制程中，

• VPD-ICP-MS晶圓表面分析

  VPD晶圓表面分析技術(shù)可以檢測出任何晶片上可能存在的污染微粒，英格爾第三方實驗室可以提供致命性污染源及其他器件缺陷檢測。英格爾分析實驗室將根據(jù)半導(dǎo)體分析技術(shù)確定良品率與污染相關(guān)性，幫助硅片企業(yè)完善產(chǎn)品體系與商業(yè)戰(zhàn)備力。英格爾檢測分析實驗室一直以助力增強未來芯片技術(shù)為目的，**企業(yè)產(chǎn)業(yè)性能提高競爭力。英格爾實驗室*解釋：為例的大小必須是**層金屬半個節(jié)距的一半。半個節(jié)距是相鄰金屬條之間間距的一半。