inkdie不良芯片大量處理

時間：2023-11-04作者：龐博電子有限公司（中國香港）瀏覽：76

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  閃存芯片矽晶圓大量處理矽晶圓 矽晶圓 矽晶圓 每次測量前必須調(diào)零，換歐姆擋后也要調(diào)零。被測電阻不能帶電，若電路有電容器，應(yīng)先將電容器放電。c。測大電阻時，不能用手接觸導(dǎo)電部分，否則會給汲J量結(jié)杲帶來嚴(yán)重誤差。d。萬用表的電流是從“—”端流出的，即“—”端為內(nèi)附電池的正極，“＋”端為內(nèi)附電池的負極。e。測晶體管電阻時應(yīng)將測量量程放在R×100或R×1k擋。若用R×1或R×10擋測量可能會燒壞晶體管，

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