BGA短路原因-優(yōu)爾鴻信電子產(chǎn)品失效分析

時(shí)間：2024-10-12作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：93

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于蘇州噪音測(cè)試,汽車零部件清潔度檢測(cè),蘇州3D掃描,蘇州尺寸檢測(cè),蘇州微應(yīng)變分析,蘇州振動(dòng)測(cè)試等, 歡迎致電 18676742563

• 詞條

  詞條說明

• 關(guān)于機(jī)械沖擊測(cè)試介紹

  沖擊是對(duì)產(chǎn)品施加突發(fā)性的力,其加速度很大,致使試件在瞬間受到強(qiáng)烈的機(jī)械沖 ????擊,可造成電路的機(jī)械結(jié)構(gòu)損壞,也可造成內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)折斷開路。 機(jī)械沖擊測(cè)試：可用來確定樣品的結(jié)構(gòu)完好性，或作為質(zhì)量控制的手段。本試驗(yàn)主要針對(duì)非包裝樣品，以及在運(yùn)輸條件下其包裝可看作產(chǎn)品本身一部分的樣品。機(jī)械沖擊峰值加速度較大、脈沖持續(xù)時(shí)間較短、很少重復(fù)出現(xiàn)、相對(duì)于產(chǎn)品結(jié)構(gòu)強(qiáng)度來

• 產(chǎn)品可靠性測(cè)試

  可靠性測(cè)試是為了確保產(chǎn)品在規(guī)范的使用壽命期內(nèi)內(nèi)，在預(yù)期的應(yīng)用、運(yùn)送或存儲(chǔ)等全部環(huán)境下，維持作用可靠性而開展的主題活動(dòng)。是將產(chǎn)品曝露在當(dāng)然的或人為的環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)下承受其功效，以點(diǎn)評(píng)產(chǎn)品在具體應(yīng)用、運(yùn)送和存儲(chǔ)的環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)下的特性，并剖析科學(xué)研究環(huán)境要素的危害水平以及作用機(jī)理。根據(jù)應(yīng)用各種各樣環(huán)境實(shí)驗(yàn)設(shè)備仿真模擬氣侯環(huán)境中的高溫、超低溫、高溫高低溫及其溫度轉(zhuǎn)變等狀況，加快反映產(chǎn)品在應(yīng)用環(huán)境中的情況，來認(rèn)證其是

• 蘇州大行程三次元測(cè)量開始接單了

  昆山檢測(cè)分支新增大行程三坐標(biāo)（其它三坐標(biāo)都有的）行程：1500*2200*1000,已準(zhǔn)備就緒，可以接單了！

• 實(shí)驗(yàn)室氫脆分析-斷口分析-金屬斷裂分析

  氫脆的發(fā)生主要是由于氫原子在金屬中的積累和遷移，引起的應(yīng)力集中和晶格缺陷，??導(dǎo)致的金屬脆性破壞。氫脆斷裂為突發(fā)性斷裂，往往會(huì)導(dǎo)致災(zāi)難性后果，因此應(yīng)高度重視破壞的嚴(yán)重性，并加以防范。?產(chǎn)生原因：1.氫原子機(jī)理：氫原子可以滲透到金屬結(jié)構(gòu)中，與金屬原子結(jié)合形成氫化物，這會(huì)導(dǎo)致金屬內(nèi)部應(yīng)力的增加，進(jìn)而引起脆性裂紋的形成和擴(kuò)展。2.?氫原子擴(kuò)散機(jī)理：氫原子通過金屬晶