復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱/可程式復(fù)合鹽霧試驗(yàn)機(jī)/干燥、濕熱、強(qiáng)制干燥、鹽霧等試驗(yàn)環(huán)境箱

時間：2016-11-22作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：209

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• 非飽和加速壽命試驗(yàn)箱

  非飽和加速壽命試驗(yàn)箱（又名PCT加速老化試驗(yàn)機(jī)）主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度/濕度及壓力下測試，濕氣會沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗(yàn)的目的：提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度、氣壓）與工作應(yīng)力（如：電壓、負(fù)荷等）加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)時間。用于調(diào)查分析電子元器件、機(jī)械零件等的

• 半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門用于對半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可以對半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個：1. 高溫儲存測試條件：85℃±5℃持續(xù)時間：1000h2. 低溫儲存測試條件：-40℃±5℃持續(xù)時間：1000h3. 溫度循環(huán)測試條件：-40℃～85℃持續(xù)時間：200

• 三綜合試驗(yàn)箱的工作原理

  三綜合試驗(yàn)箱是溫濕度和振動結(jié)合的高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱，用三綜合試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)的目的為確定溫度、濕度、振動對機(jī)電產(chǎn)品在地面和飛行期間的表現(xiàn)、安全性及性能的綜合影響。該試驗(yàn)的某些部分可以應(yīng)用于地面車輛，一般在這種情況下進(jìn)行試驗(yàn)不考慮高度。也可以通過試驗(yàn)評價(jià)產(chǎn)品在空中(或海拔地區(qū))受到溫度、濕度和振動的綜合作用時可能引發(fā)的故障。該實(shí)驗(yàn)還可用于工程研制試驗(yàn)、飛行或使用支持試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和其他類似目的的試驗(yàn)。&

• 可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)是什么？

  可靠性鑒定試驗(yàn)是為驗(yàn)證產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否達(dá)到了規(guī)定的可靠性要求，由認(rèn)購方認(rèn)可的單位按選定的抽樣方案抽取具有代表性的產(chǎn)品，并在規(guī)定條件下所進(jìn)行的試驗(yàn)?？煽啃澡b定試驗(yàn)是產(chǎn)品使用可靠程度的確認(rèn)試驗(yàn)，也是公司研發(fā)產(chǎn)品在批量化生產(chǎn)前進(jìn)行的一種驗(yàn)證試驗(yàn)。可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)是為驗(yàn)證公司所生產(chǎn)產(chǎn)品是否達(dá)到規(guī)定的可靠性要求，在規(guī)定條件下所進(jìn)行的試驗(yàn)?？煽啃澡b定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)都屬于驗(yàn)證試驗(yàn)，也可以稱為統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)。統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)方案類