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X射線光譜方法測(cè)定


    深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專(zhuān)注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測(cè)試,表面粗糙度量測(cè)等

  • 詞條

    詞條說(shuō)明

  • 表面分析檢測(cè)包括哪些項(xiàng)目?

    表面分析檢測(cè)項(xiàng)目:?材料表面(薄膜)基本力學(xué)性能(納米壓痕儀)?材料的硬度(顯微硬度計(jì))?薄膜與基體的結(jié)合力(大載荷劃痕儀,納米劃痕儀)?抗摩擦磨損能力(摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),劃痕儀)?表面應(yīng)力分析(X 射線衍射儀,納米壓痕 model 軟件)?材料物理化學(xué)性能:?耐腐蝕性能(鹽霧試驗(yàn)機(jī))?電化學(xué)性能(電化學(xué)工作站)&nbs

  • 微量污染物成分分析

    微觀成分分析????????◆腐蝕產(chǎn)物分析????????◆鍍(涂)層成分分析????????◆污染物成分分析????&

  • 聚焦離子束(FIB)在成分分析中的應(yīng)用

    焦離子束工作原理:? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源,再加上負(fù)電場(chǎng)?(Extractor)?牽引尖端細(xì)小的鎵原子,而導(dǎo)出鎵離子束再以電透鏡聚焦,經(jīng)過(guò)一連串可變孔徑光闌,決定離子束的大小,再經(jīng)過(guò)二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面,利用物理碰撞來(lái)進(jìn)行特定圖案的加工,一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB),可以提供材料切割、沉積金屬、

  • 什么是表面微觀形貌SEM?

    表面所具有的微觀幾何形狀統(tǒng)稱為表面形貌(surface?topography),?其中表面被定義為-?-種材料與其它材料之間的分界面"?(在工程表面的情況下,一種材料是空氣,另-種為固體材料,例如金屬、塑料等)。固體表面是指固體上代表實(shí)體和周?chē)h(huán)境邊界的部分。工程表面形貌代表著工件表面的主要外部特征,是由加工過(guò)程中的各種工序產(chǎn)生的。一個(gè)制件表面的微觀幾何形貌

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