X射線光譜方法測定

時間：2019-12-23作者：深圳市啟威測標準技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：289

深圳市啟威測標準技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

• 詞條

  詞條說明

• 涂鍍層厚度測試的應(yīng)用領(lǐng)域

  涂鍍層厚度測試應(yīng)用領(lǐng)域電子、汽車、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個制造領(lǐng)域。涂/鍍層厚度測量相關(guān)參考標準GB/T?6462-2005?金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法GB/T16921-2005?金屬覆蓋層?覆蓋層厚度測量 X射線光譜法ASTM?B487-1985(2007)?用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗方法ASTM?

• 微量污染物成分分析

  微觀成分分析????????◆腐蝕產(chǎn)物分析????????◆鍍（涂）層成分分析????????◆污染物成分分析????&

• 表面成分分析需要的工具有哪些？

  表面成分分析工具化學(xué)抽提法微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀微譜技術(shù)實拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜（OES）電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）原子吸收光譜（AAS）手持式XRF

• 表面微觀形貌的測量與評定

  表面形貌評定的**在于對特征信號無失真的提取和對使用性能的量化評定，國內(nèi)外學(xué)者在這一方面做了?大量工作，提出了許多分離與重構(gòu)方法。隨著當今微機處理技術(shù)、集成電路技術(shù)、機電一體化技術(shù)等的發(fā)展。出現(xiàn)了用分形法、Motif法、功能參數(shù)集法、時間序列技術(shù)分析法、小二乘多項式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，**了顯著進展。表面是由粗糙度，波紋度和表面形狀誤差3個部分構(gòu)成的。隨著現(xiàn)代測量精度的不