微量污染物成分分析

時間：2019-12-23作者：深圳市啟威測標準技術(shù)服務有限公司瀏覽：395

深圳市啟威測標準技術(shù)服務有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

• 詞條

  詞條說明

• 表面成分分析的常見方法

  表面成分分析按照結(jié)論來區(qū)分，物質(zhì)成分分析分為定性分析和定量分析兩種.成分分析的定性結(jié)果?通俗的理解是——通過成分分析的手段得出被測物中主要包括的成分，概況的來說就是確定物質(zhì)的組分。成分分析的定量結(jié)果?通俗的理解是——在確定被測物的定性組分之后，進行相應的定量分析，得出各種組分的分配比例。按照現(xiàn)在的科學技術(shù)，定量分析只能做到無限接近真實情況，但卻無法**保證準確。定性半定量分

• SEM及EDS測試范圍有哪些？

  SEM的二次電子成像分辨率約3nm背散射電子成像分辨率約300nmEDS成分分析的元素范圍Be~U分析深度約1μm檢測下限約1%空間分辨率約1μmSEM+?EDS常規(guī)服務項目:各種固體材料的形貌分析微區(qū)化學成分檢測樣品成分的線分布和面分布分析機械探針式測量方法:探針式輪廓儀測量范圍大，測量精度高，但它是一種點掃描測量，測量費時。機械探針式測量方法是開發(fā)較早、研究充分的一一種表面輪廓測量方

• 涂鍍層厚度測試的應用領(lǐng)域

  涂鍍層厚度測試應用領(lǐng)域電子、汽車、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個制造領(lǐng)域。涂/鍍層厚度測量相關(guān)參考標準GB/T?6462-2005?金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法GB/T16921-2005?金屬覆蓋層?覆蓋層厚度測量 X射線光譜法ASTM?B487-1985(2007)?用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗方法ASTM?

• 聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應用

  焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負電場?(Extractor)?牽引**細小的鎵原子，而導出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、