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可控硅壞的原因:1、電壓擊穿可控硅因不能承受電壓而損壞,其芯片中有一個光潔的小孔,有時需用擴大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產(chǎn)生的高電壓擊穿。2、電流損壞電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個凹坑,且粗糙,其位置在遠離控制極上。3、電流上升率損壞其痕跡與電流損壞相同,而其位置在控制極附近或就在控制極上。4、邊緣損壞他發(fā)生在芯片外圓倒角處,有細小光潔小孔。用放大鏡可看到倒角面上有
吸收電容在電路中起的作用類似于低通濾波器,可以吸收掉尖峰電壓。通常用在有絕緣柵雙極型晶體管(IGBT),消除由于母排的雜散電感引起的尖峰電壓,避免絕緣柵雙極型晶體管的損壞。母線電感以及緩沖電路及其元件內(nèi)部的雜散電感,對IGBT 電路尤其是大功率IGBT 電路,有極大的影響。因此,希望它愈小愈好。要減小這些電感,需從多方面入手。第一,直流母線要盡量地短;第二,緩沖電路要盡可能地貼近模塊;第三,選用
## IGBT模塊:電力電子領(lǐng)域的核心器件 IGBT模塊作為現(xiàn)代電力電子技術(shù)的核心部件,其性能直接影響著電能轉(zhuǎn)換的效率與可靠性。這種由絕緣柵雙極型晶體管構(gòu)成的功率半導(dǎo)體器件,兼具MOSFET的高輸入阻抗和BJT的低導(dǎo)通壓降特性,在工業(yè)變頻器、新能源發(fā)電、電動汽車等領(lǐng)域展現(xiàn)出不可替代的價值。 高效能功率轉(zhuǎn)換是IGBT模塊最顯著的技術(shù)特征。通過優(yōu)化溝槽柵結(jié)構(gòu)和減薄晶圓工藝,當代IGBT模塊的導(dǎo)通損耗較
熔斷器(fuse)是指當電流超過規(guī)定值時,以本身產(chǎn)生的熱量使熔體熔斷,斷開電路的一種電器。熔斷器是根據(jù)電流超過規(guī)定值一段時間后,以其自身產(chǎn)生的熱量使熔體熔化,從而使電路斷開;運用這種原理制成的一種電流保護器。熔斷器廣泛應(yīng)用于高低壓配電系統(tǒng)和控制系統(tǒng)以及用電設(shè)備中,作為短路和過電流的保護器,是應(yīng)用最普遍的保護器件之一。熔斷器常見種類插入式熔斷器:它常用于380V及以下電壓等級的線路末端,作為配電支線
公司名: 昆山奇沃電子有限公司
聯(lián)系人: 林志勝
電 話: 0512-50111678
手 機: 18962647678
微 信: 18962647678
地 址: 江蘇蘇州昆山市昆山市玉山鎮(zhèn)富士康路932號
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