優(yōu)爾鴻信成分分析|電子產(chǎn)品重金屬超標(biāo)怎么檢測？

時間：2025-04-30作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：352

優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測試,光老化測試,振動沖擊測試,IP防護(hù)等級測試,鹽霧腐蝕測試,HALT測試,sem+eds測試,清潔度測試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

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• 優(yōu)爾鴻信精密量測|接觸式表面粗糙度測量

  接觸式表面粗糙度測量接觸式測量適合清晰波形輪廓，長距離測量，球面受量程影響測量有限。對于常規(guī)表面、較為粗糙表面、硬質(zhì)材料表面、2D線粗糙度測量、深槽表面粗糙度就具有優(yōu)勢。常用檢測設(shè)備為表面粗糙度儀，依據(jù)GB/T 10610-2009標(biāo)準(zhǔn)測試分析。富士康優(yōu)爾鴻信檢測，在工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品領(lǐng)域，被譽(yù)為量測*者，因擁有20多年的量測經(jīng)驗(yàn)，對不同產(chǎn)品、零件、工件表面粗糙度的檢測，優(yōu)爾鴻信擁有成熟的檢測流程、

• 優(yōu)爾鴻信檢測|工業(yè) CT 掃描檢測技術(shù)在航空航天領(lǐng)域的應(yīng)用案例

  工業(yè) CT 掃描檢測技術(shù)在航空航天領(lǐng)域有諸多應(yīng)用案例，以下是一些典型的：渦輪葉片檢測：內(nèi)部缺陷檢測：渦輪葉片處于發(fā)動機(jī)的高溫、高壓環(huán)境中，對質(zhì)量要求較高。工業(yè) CT 可以檢測出葉片內(nèi)部的氣孔、疏松、裂紋等缺陷。例如，在葉片鑄造過程中，可能會因工藝問題產(chǎn)生微小的內(nèi)部缺陷，這些缺陷用傳統(tǒng)檢測方法難以發(fā)現(xiàn)，但工業(yè) CT 能夠清晰呈現(xiàn)，幫助篩選出不合格的葉片，避免在發(fā)動機(jī)運(yùn)行時出現(xiàn)故障。尺寸測量與輪廓檢查

• 優(yōu)爾鴻信成分分析|FTIR紅外光譜圖分析方法

  FTIR紅外光譜圖分析方法 FTIR紅外光譜譜圖比對分析有現(xiàn)成紅外譜圖庫參考，通過相似度、譜圖重疊程度綜合判定。 但是也會面臨標(biāo)準(zhǔn)譜庫檢索導(dǎo)致的誤判 需要足夠多的化學(xué)分析、材料研發(fā)經(jīng)驗(yàn)來支撐 優(yōu)爾鴻信，自1996年建立紅外光譜實(shí)驗(yàn)室，并將實(shí)驗(yàn)室研發(fā)技術(shù)，導(dǎo)入到*生產(chǎn)中，幫助解決問題，積累一些經(jīng)驗(yàn)。 編輯：Amanda王莉

• 優(yōu)爾鴻信檢測|IC (集成電路)檢測的常用方法有哪些？

  集成電路（IC）檢測是確保其質(zhì)量和性能的關(guān)鍵步驟，以下是一些常用的檢測方法：一、外觀檢查這是較基本的檢測方法。通過肉眼或借助放大鏡來檢查 IC 的引腳是否有彎曲、折斷、氧化等情況。同時，查看芯片表面是否有劃痕、裂紋、污漬或其他物理損壞。對于封裝體，檢查其標(biāo)記是否清晰、完整，確保型號等信息準(zhǔn)確無誤，因?yàn)闃?biāo)記錯誤可能會導(dǎo)致使用錯誤的芯片。二、功能測試在線測試（ICT）這是在電路板上對 IC 進(jìn)行測試的