優(yōu)爾鴻信2024年研討會(huì)計(jì)劃

時(shí)間：2025-10-30作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：373

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 切片分析檢測(cè)對(duì)電子器件的作用？

  切片分析檢測(cè)在電子器件領(lǐng)域有著至關(guān)重要的作用。首先，切片分析能夠幫助確定電子器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。電子器件通常是多層結(jié)構(gòu)，包含各種材料如半導(dǎo)體、金屬、絕緣層等。通過(guò)切片分析，可以將器件沿特定方向切開(kāi)，然后在顯微鏡下觀察其橫截面。這樣能夠清晰地看到各層的厚度、形狀、排列順序等細(xì)節(jié)。例如，在集成電路中，切片分析可以明確芯片內(nèi)部不同功能區(qū)域（如邏輯單元、存儲(chǔ)單元等）的分布情況，以及它們之間的連接方式，包括金屬

• 哪些方法可用于不銹鋼化學(xué)成分的檢測(cè)？

  光譜分析法原子發(fā)射光譜法（AES）：原理是通過(guò)激發(fā)樣品中的原子，使其發(fā)射出具有特征波長(zhǎng)的光。對(duì)于不銹鋼，將樣品在高溫等離子體等激發(fā)源下激發(fā)，不同元素的原子會(huì)發(fā)射出特定波長(zhǎng)的光，如鉻原子發(fā)射出特定波長(zhǎng)的光用于其含量的測(cè)定。檢測(cè)時(shí)，把不銹鋼樣品制成合適的形狀（如塊狀或屑狀），放入光譜儀的激發(fā)源中，儀器會(huì)記錄發(fā)射光的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，通過(guò)與已知標(biāo)準(zhǔn)樣品的光譜對(duì)比，確定各種化學(xué)成分的含量。這種方法可同時(shí)檢測(cè)多種

• 影響金屬涂層的失效原因有哪些-富士康華南檢測(cè)中心

  導(dǎo)致金屬涂層的失效的主要因素有：光降解老化、水降解老化、涂層發(fā)泡、起鼓問(wèn)題等因素導(dǎo)致。?金屬涂層失效原因分析，有助于優(yōu)化涂層厚度、涂層表面處理工藝提升、表面涂層壽命延長(zhǎng)。?更多金屬涂層失效分析，建議尋找當(dāng)?shù)貙?shí)驗(yàn)室資源，獲得合適的建議再做優(yōu)化調(diào)整。?編輯:Amanda王莉

• 優(yōu)爾鴻信成分分析| FTIR紅外光譜技術(shù)原理

  FTIR紅外光譜技術(shù)原理FTIR，屬于分子光譜的應(yīng)用，在工業(yè)領(lǐng)域，較為常用的是中紅外光譜。?目標(biāo)樣品，被紅外照射之后，樣品內(nèi)部的分子結(jié)構(gòu)吸收特征頻率的輻射， 輻射環(huán)境分子的振動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，引起分子結(jié)構(gòu)的偶極矩改變， 由此分子振動(dòng)能級(jí)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)，都被激發(fā)躍遷，躍遷從基態(tài)到激發(fā)態(tài)的能級(jí)變化，產(chǎn)生特征頻率、特征強(qiáng)度的分子光譜 物質(zhì)的化學(xué)結(jié)構(gòu)定性分析，就是基于該光譜圖的特征頻率和特征強(qiáng)度的綜合判定。編