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詞條說明
金屬材料晶粒尺寸檢測有哪些常用方法?它們的精度和適用范圍分別是怎樣的?
光學顯微鏡法原理和操作:這是最基本的方法。通過對金屬材料進行適當?shù)慕鹣嘀苽洌ㄈ缜懈睢⒀心?、拋光和腐蝕),使晶粒邊界顯現(xiàn)出來,然后在光學顯微鏡下觀察。利用顯微鏡的放大功能,可以直接測量晶粒的尺寸。精度:精度相對較低,一般可以精確到微米級別。例如,對于晶粒尺寸在 10 - 100 微米的材料,能夠得到比較準確的測量結果,但對于亞微米級別的晶粒,測量就比較困難。適用范圍:適用于晶粒尺寸較大(通常大于 1
在不同的使用場景和環(huán)境條件下,清洗劑的 VOCs 測試結果會有怎樣的差異?
溫度的影響溫度是一個關鍵因素。在較高溫度下,清洗劑中的揮發(fā)性有機化合物(VOCs)分子具有更高的動能,分子運動加劇,更容易從液態(tài)轉變?yōu)闅鈶B(tài)。例如,在室內清潔場景中,如果將使用清洗劑的環(huán)境溫度從 20℃提升到 30℃,VOCs 的揮發(fā)速度可能會加快 1.5 - 2 倍。這是因為溫度升高使清洗劑中 VOCs 的飽和蒸氣壓增大,更多的 VOCs 分子能夠克服液體表面張力進入到空氣中。而在低溫環(huán)境下,如在
形位公差測量標準主要如下:《GB/T 1182-2018產品幾何技術規(guī)范(GPS) 幾何公差 形狀、方向、位置和跳動公差標注.pdf》?《GB_T1182-1996形狀和位置公差通則、定義、符號和圖樣表示法》?實際的工業(yè)制品測量形位公差,會有很多技術細節(jié),需要來自測量實驗室的建議,提供形位公差測量方案,詳情咨詢優(yōu)爾鴻信編輯:Amanda王莉
高低溫測試,又高低溫循環(huán)測試,在電子產品環(huán)境可靠性測試中較為常見。 高低溫測試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進行測試。 先檢查產品拍照,再放進高低溫箱中,設置溫度箱參數(shù)、各自溫度保持時間、周期數(shù)等,測試結束再檢查樣品性能,對比分析。 編輯:Amanda王莉
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