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1. 光學(xué)顯微鏡以可見光為介質(zhì),電子顯微鏡以電子束為介質(zhì),由于電子束波長遠(yuǎn)較可見光小,故電子顯微鏡分辨率遠(yuǎn)比光學(xué)顯微鏡高。光學(xué)顯微鏡放大倍率最高只有約1500倍,掃描式顯微鏡可放大到10000倍以上。 2. 根據(jù)de Broglie波動理論,電子的波長僅與加速電壓有關(guān):λe=h / mv= h / (2qmV)1/2=12.2 / (V)1/2 (?)在 10 KV 的加速電壓之下,電子的波長僅為
辨別各種金相組織體1.奧氏體碳與合金元素溶解在γ-fe中的固溶體,仍保持γ-fe的面心立方晶格。晶界比較直,呈規(guī)則多邊形;淬火鋼中殘余奧氏體分布在馬氏體間的空隙處.2.鐵素體碳與合金元素溶解在a-Fe中的固溶體。亞共析鋼中的慢冷鐵素體呈塊狀,晶界比較圓滑,當(dāng)碳含量接近共析成分時,鐵素體沿晶粒邊界析出。3.滲碳體碳與鐵形成的一種化合物。在液態(tài)鐵碳合金中,首先單獨結(jié)晶的滲碳體(一次滲碳體)為塊狀,角不
電子元器件CT檢測:透視內(nèi)部缺陷的利器電子元器件CT檢測技術(shù)正在成為現(xiàn)代制造業(yè)質(zhì)量控制的重要工具。這項技術(shù)利用X射線穿透被測物體,通過計算機(jī)重建三維圖像,能夠在不破壞元器件的情況下清晰展示內(nèi)部結(jié)構(gòu)。傳統(tǒng)檢測方法如目視檢查、X射線二維成像存在明顯局限性,無法全面評估復(fù)雜結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷。而工業(yè)CT技術(shù)突破了這一瓶頸,可清晰顯示元器件內(nèi)部的裂紋、氣泡、異物、焊接不良等缺陷。尤其對于BGA封裝、多層PC
插座是大家日常日常生活最多見的用具之一,并且是我們的日常生活有而離不了它。插座在運用時必須完成一定的可靠性測試,來確保連接器特性及其各種各樣面的運用狀況做到最好是。連接器和插座一般的可靠性測試主要包含高低溫試驗、耐腐蝕、插下力測試、耐用性測試、 接地電阻測試 、耐工作電壓測試 、震動測試等。插座可靠性測試新項目:超低溫:電連接器低溫實驗EIA/ECA-3 ** -59A-2006高溫:電連接器高溫
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 楊經(jīng)理
電 話: 18676742563
手 機(jī): 18676742563
微 信: 18676742563
地 址: 江蘇蘇州昆山市玉山鎮(zhèn)南淞路299號
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