詞條
詞條說(shuō)明
SEM掃描電鏡分析的作用是什么? 材料領(lǐng)域中掃描電鏡分析技術(shù)的作用非常重要,因此被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。 掃描電鏡可以究晶體缺陷產(chǎn)生過(guò)程,可觀察金屬材料內(nèi)部原子集結(jié)和邊界移動(dòng)的方式,還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。 編輯:Amanda王莉
優(yōu)爾鴻信老化測(cè)試|三綜合試驗(yàn)是什么
三綜合試驗(yàn)是什么??三綜合試驗(yàn)設(shè)備可進(jìn)行高溫、低溫、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒溫恒濕、交變濕熱、正弦定頻、正弦掃頻、隨機(jī)振動(dòng)、沖擊、高溫機(jī)械沖擊、低溫機(jī)械沖擊、溫度-沖擊響應(yīng)普、溫度-振動(dòng)、溫度-振動(dòng)-濕度等產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)。
一、失效背景調(diào)查公司內(nèi)部某單位所使用的U73Z002.00 PCB回流焊後發(fā)現(xiàn)U1 BGA出現(xiàn)大型空洞(area> 25%)。對(duì)該位置進(jìn)行切片以確認(rèn)不良現(xiàn)象,結(jié)果如下圖所示:根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn),BGA焊點(diǎn)氣泡面積應(yīng) ≤25%二、空洞產(chǎn)生機(jī)理氣體來(lái)源﹕水汽:(1) Flux與金屬氧化物(SnO/CuO) 反應(yīng)后產(chǎn)生水分2RCOOH+SnO/CuO—→Sn/Cu(RCOO)2+H2O↑(2) Flu
如何根據(jù)金屬材料的晶粒尺寸檢測(cè)結(jié)果評(píng)估材料的性能?
強(qiáng)度和硬度評(píng)估一般來(lái)說(shuō),晶粒尺寸越小,金屬材料的強(qiáng)度和硬度越高。這是因?yàn)榧?xì)晶粒的晶界較多,晶界會(huì)阻礙位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)。位錯(cuò)是晶體中的一種缺陷,材料的塑性變形主要是通過(guò)位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)的。例如,在鋼鐵材料中,當(dāng)晶粒細(xì)化到一定程度,其屈服強(qiáng)度會(huì)顯著提高。根據(jù)霍爾 - 佩奇(Hall - Petch)公式,屈服強(qiáng)度與晶粒尺寸的平方根成反比。所以,通過(guò)檢測(cè)晶粒尺寸,可以初步推斷材料的強(qiáng)度和硬度是否符合要求。如果晶粒尺
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 曹
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手 機(jī): 15827322876
微 信: 15827322876
地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號(hào)
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網(wǎng) 址: foxconn_cmc.cn.b2b168.com
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