詞條
詞條說(shuō)明
金屬材料晶粒尺寸檢測(cè)有哪些常用方法?它們的精度和適用范圍分別是怎樣的?
光學(xué)顯微鏡法原理和操作:這是最基本的方法。通過(guò)對(duì)金屬材料進(jìn)行適當(dāng)?shù)慕鹣嘀苽洌ㄈ缜懈?、研磨、拋光和腐蝕),使晶粒邊界顯現(xiàn)出來(lái),然后在光學(xué)顯微鏡下觀察。利用顯微鏡的放大功能,可以直接測(cè)量晶粒的尺寸。精度:精度相對(duì)較低,一般可以精確到微米級(jí)別。例如,對(duì)于晶粒尺寸在 10 - 100 微米的材料,能夠得到比較準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,但對(duì)于亞微米級(jí)別的晶粒,測(cè)量就比較困難。適用范圍:適用于晶粒尺寸較大(通常大于 1
優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|SI 信號(hào)完整性測(cè)試的方法有哪些?
SI 信號(hào)完整性測(cè)試的方法主要有以下幾種:時(shí)域分析方法:波形測(cè)試:使用示波器測(cè)試信號(hào)的波形幅度、邊沿和毛刺等參數(shù),查看其是否滿足器件接口電平的要求,以評(píng)估信號(hào)質(zhì)量.眼圖測(cè)試:通過(guò)疊加多個(gè)信號(hào)波形形成眼圖,來(lái)評(píng)估信號(hào)在時(shí)域和頻域的性能,包括信號(hào)的抖動(dòng)、衰減和噪聲等,能直觀地反映信號(hào)的整體質(zhì)量狀況.時(shí)序測(cè)試:評(píng)估信號(hào)的時(shí)序容限,確保產(chǎn)品在高速運(yùn)行時(shí)信號(hào)的時(shí)序滿足要求,保證數(shù)據(jù)的正確傳輸和系統(tǒng)的穩(wěn)定工作
優(yōu)爾鴻信老化測(cè)試|三綜合試驗(yàn)是什么
三綜合試驗(yàn)是什么??三綜合試驗(yàn)設(shè)備可進(jìn)行高溫、低溫、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒溫恒濕、交變濕熱、正弦定頻、正弦掃頻、隨機(jī)振動(dòng)、沖擊、高溫機(jī)械沖擊、低溫機(jī)械沖擊、溫度-沖擊響應(yīng)普、溫度-振動(dòng)、溫度-振動(dòng)-濕度等產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)。
在線研討會(huì)邀請(qǐng)-電路板清潔度檢測(cè)和離子污染度測(cè)定案例分享
請(qǐng)加入我們2023年6月28日下午4點(diǎn)在線研討會(huì),優(yōu)爾鴻信屆時(shí)將開(kāi)展“電子產(chǎn)品離子清潔度測(cè)試能力與經(jīng)驗(yàn)分享”網(wǎng)絡(luò)分享,探索電子設(shè)備電路板離子清潔度測(cè)試方法與案例分享!在我們的研討會(huì),我們將與您分享最新的電子設(shè)備電路板離子清潔度測(cè)試方法與案例。您將了解到:電路板常見(jiàn)殘留離子種類離子測(cè)試方法介紹離子色譜實(shí)驗(yàn)室相關(guān)能力介紹離子測(cè)定案例分享由于電路板生產(chǎn)工藝復(fù)雜,涉及到的材料及物質(zhì)較多,例如電鍍水、助焊劑
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 曹
電 話:
手 機(jī): 15827322876
微 信: 15827322876
地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號(hào)
郵 編: 0
網(wǎng) 址: foxconn_cmc.cn.b2b168.com
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