優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)|形位公差的定義

時(shí)間：2025-11-10作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：251

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• SEM掃描電鏡分析的作用是什么-富士康華南檢測(cè)中心

  SEM掃描電鏡分析的作用是什么？ 材料領(lǐng)域中掃描電鏡分析技術(shù)的作用非常重要，因此被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。 掃描電鏡可以究晶體缺陷產(chǎn)生過程，可觀察金屬材料內(nèi)部原子集結(jié)和邊界移動(dòng)的方式，還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。 編輯:Amanda王莉

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè) 主板BGA開裂 失效分析

  背景：客戶生產(chǎn)的主板上的BGA在*二次過爐后出現(xiàn)開裂現(xiàn)象，斷裂發(fā)生在組件側(cè)。故委托實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行分析，以便找到失效原因。?分析結(jié)果：?1.熒光劑浸泡+冷拔+斷口分析結(jié)果，排除“金脆”引發(fā)BGA開裂的可能性。?2.動(dòng)態(tài)翹曲度測(cè)試結(jié)果表明，PCB四連板在加熱過程中變形明顯，呈現(xiàn)中間下凹、左右兩邊上凸的形態(tài)。且其在冷卻完成后翹曲較嚴(yán)重。3.開裂焊點(diǎn)統(tǒng)計(jì)結(jié)果顯示，開裂多發(fā)生在未植

• 【優(yōu)爾鴻信檢測(cè)】深圳市質(zhì)量檢驗(yàn)協(xié)會(huì)一行蒞臨我司調(diào)研

  ? ? ? ?2024年11月27日下午，深圳市質(zhì)量檢驗(yàn)協(xié)會(huì)副秘書長(zhǎng)吳漢武、會(huì)員部部長(zhǎng)助理唐薇、技術(shù)部張曉明、會(huì)員部李清芳一行蒞臨我司龍華總部調(diào)研指導(dǎo)工作。? ? ? 參觀前，張平資深處長(zhǎng)代表我司對(duì)吳漢武副秘書長(zhǎng)一行的來(lái)訪表示熱烈的歡迎，介紹了我司的基本情況、服務(wù)宗旨、服務(wù)理念及以往的工作成效，表達(dá)了對(duì)檢測(cè)行業(yè)未來(lái)發(fā)展的期望。吳

• 優(yōu)爾鴻信老化測(cè)試|溫度濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱

  三綜合試驗(yàn)需要的設(shè)備有：溫濕度三綜合試驗(yàn)箱三綜合振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)機(jī)三綜合振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱深圳龍華富士康華南檢測(cè)中心，有專門的三綜合試驗(yàn)中心，進(jìn)口溫濕度三綜合振動(dòng)試驗(yàn)箱，能滿足高低溫濕熱交變振動(dòng)三綜合試驗(yàn)需求。