新型材料制成的通用零部件對(duì)尺寸及幾何公差檢測(cè)技術(shù)有哪些新要求？

時(shí)間：2025-10-31作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：231

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• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)越南實(shí)驗(yàn)室盛大開業(yè)

  優(yōu)爾鴻信檢測(cè)越南實(shí)驗(yàn)室正式開業(yè)！作為深耕檢測(cè)行業(yè)30年的第三方機(jī)構(gòu)，我們致力于為全球客戶提供精準(zhǔn)、公正、*的檢驗(yàn)檢測(cè)服務(wù)。新實(shí)驗(yàn)室將提供產(chǎn)品可靠性、SMT質(zhì)量檢測(cè)等全方位服務(wù)，以先進(jìn)設(shè)備與技術(shù)，助力企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量，滿足市場(chǎng)需求，期待與您攜手共進(jìn)！

• 在線研討會(huì)邀請(qǐng)-電路板清潔度檢測(cè)和離子污染度測(cè)定案例分享

  請(qǐng)加入我們2023年6月28日下午4點(diǎn)在線研討會(huì)，優(yōu)爾鴻信屆時(shí)將開展“電子產(chǎn)品離子清潔度測(cè)試能力與經(jīng)驗(yàn)分享”網(wǎng)絡(luò)分享，探索電子設(shè)備電路板離子清潔度測(cè)試方法與案例分享！在我們的研討會(huì)，我們將與您分享最新的電子設(shè)備電路板離子清潔度測(cè)試方法與案例。您將了解到：電路板常見殘留離子種類離子測(cè)試方法介紹離子色譜實(shí)驗(yàn)室相關(guān)能力介紹離子測(cè)定案例分享由于電路板生產(chǎn)工藝復(fù)雜，涉及到的材料及物質(zhì)較多，例如電鍍水、助焊劑

• 優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)|形位公差的定義

  形位公差指的是加工零部件存在尺寸公差，零部件幾何位置點(diǎn)、線、面的形狀位置，實(shí)際尺寸相對(duì)于理想尺寸總是會(huì)存在誤差，只是誤差范圍大小不同而已，這種幾何形狀差異，統(tǒng)稱為形位公差。優(yōu)爾鴻信精密量測(cè)實(shí)驗(yàn)室，認(rèn)可CMA/CNAS資質(zhì)，擁有獨(dú)立的超精密尺寸測(cè)量中心，提供基于ASME Y14.5.1-2019標(biāo)準(zhǔn)的，輪廓度公差測(cè)試實(shí)驗(yàn)室服務(wù)，提供產(chǎn)品幾何尺寸測(cè)量分析報(bào)告。

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|常見的IC檢測(cè)設(shè)備有哪些？

  以下是一些常見的 IC 檢測(cè)設(shè)備：自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）功能：可自動(dòng)對(duì) IC 進(jìn)行性能驗(yàn)證和故障診斷，能精確測(cè)量和評(píng)估芯片各項(xiàng)性能指標(biāo)，通過自動(dòng)化測(cè)試流程大幅提高測(cè)試效率，支持多種測(cè)試模式和程序以滿足不同測(cè)試需求，并采用先進(jìn)故障診斷和隔離技術(shù)確保測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠.應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、制造、封裝等各個(gè)環(huán)節(jié)，如 SoC 測(cè)試機(jī)用于智能手機(jī)、平板電腦、數(shù)據(jù)中心等高端電子設(shè)備中的系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試；存