在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗中，產(chǎn)品不同的著地姿態(tài)（如正面著地、邊角著地、側(cè)面著地）對產(chǎn)品損壞程度有何不同影響及原因？

時間：2025-12-01作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：211

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• 優(yōu)爾鴻信檢測 主板BGA開裂 失效分析

  背景：客戶生產(chǎn)的主板上的BGA在*二次過爐后出現(xiàn)開裂現(xiàn)象，斷裂發(fā)生在組件側(cè)。故委托實驗室進(jìn)行分析，以便找到失效原因。?分析結(jié)果：?1.熒光劑浸泡+冷拔+斷口分析結(jié)果，排除“金脆”引發(fā)BGA開裂的可能性。?2.動態(tài)翹曲度測試結(jié)果表明，PCB四連板在加熱過程中變形明顯，呈現(xiàn)中間下凹、左右兩邊上凸的形態(tài)。且其在冷卻完成后翹曲較嚴(yán)重。3.開裂焊點統(tǒng)計結(jié)果顯示，開裂多發(fā)生在未植

• 優(yōu)爾鴻信檢測 超精密量測之3D光學(xué)輪廓儀介紹

  超精密量測 3D 光學(xué)輪廓儀是現(xiàn)代精密測量領(lǐng)域的一項杰出成果，它在微觀形貌測量方面展現(xiàn)出非凡的能力。從功能角度來看，3D光學(xué)輪廓儀以其獨特的光學(xué)技術(shù)實現(xiàn)了高精度的三維測量。它基于光的干涉原理，能夠精確捕捉物體表面微觀的高度信息。其核心功能之一是對各種復(fù)雜表面的形貌重建。無論是具有精細(xì)紋理的機(jī)械加工表面，還是有著微妙起伏的光學(xué)鏡片，它都能生成精確的三維模型。這種重建能力對于質(zhì)量控制和產(chǎn)品研發(fā)意義重大

• 在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗中，產(chǎn)品不同的著地姿態(tài)（如正面著地、邊角著地、側(cè)面著地）對產(chǎn)品損壞程度有何不同影響及原因？

  在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗中，不同著地姿態(tài)對產(chǎn)品損壞程度有著顯著不同的影響。當(dāng)產(chǎn)品正面著地時，對于帶有顯示屏的電子設(shè)備，如手機(jī)、平板電腦等，屏幕往往是最容易受損的部分。這是因為屏幕是一個相對脆弱的平面結(jié)構(gòu)，正面著地會使沖擊力直接作用于屏幕。屏幕玻璃可能會出現(xiàn)破裂，內(nèi)部的液晶層也可能會受到擠壓損壞，導(dǎo)致顯示異常。同時，正面著地還可能使位于產(chǎn)品正面的按鍵、攝像頭等部件因受到?jīng)_擊而損壞，例如按鍵可能會失去彈

• 優(yōu)爾鴻信檢測|工業(yè) CT 掃描檢測技術(shù)在航空航天領(lǐng)域的應(yīng)用案例

  工業(yè) CT 掃描檢測技術(shù)在航空航天領(lǐng)域有諸多應(yīng)用案例，以下是一些典型的：渦輪葉片檢測：內(nèi)部缺陷檢測：渦輪葉片處于發(fā)動機(jī)的高溫、高壓環(huán)境中，對質(zhì)量要求極高。工業(yè) CT 可以檢測出葉片內(nèi)部的氣孔、疏松、裂紋等缺陷。例如，在葉片鑄造過程中，可能會因工藝問題產(chǎn)生微小的內(nèi)部缺陷，這些缺陷用傳統(tǒng)檢測方法難以發(fā)現(xiàn)，但工業(yè) CT 能夠清晰呈現(xiàn)，幫助篩選出不合格的葉片，避免在發(fā)動機(jī)運行時出現(xiàn)故障。尺寸測量與輪廓檢查