優(yōu)爾鴻信檢測|工業(yè) CT 掃描檢測技術(shù)在航空航天領(lǐng)域的應(yīng)用案例

時間：2025-11-20作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：433

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  詞條說明

• 在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗中，產(chǎn)品不同的著地姿態(tài)（如正面著地、邊角著地、側(cè)面著地）對產(chǎn)品損壞程度有何不同影響及原因？

  在電子電氣產(chǎn)品跌落試驗中，不同著地姿態(tài)對產(chǎn)品損壞程度有著顯著不同的影響。當(dāng)產(chǎn)品正面著地時，對于帶有顯示屏的電子設(shè)備，如手機、平板電腦等，屏幕往往是最容易受損的部分。這是因為屏幕是一個相對脆弱的平面結(jié)構(gòu)，正面著地會使沖擊力直接作用于屏幕。屏幕玻璃可能會出現(xiàn)破裂，內(nèi)部的液晶層也可能會受到擠壓損壞，導(dǎo)致顯示異常。同時，正面著地還可能使位于產(chǎn)品正面的按鍵、攝像頭等部件因受到?jīng)_擊而損壞，例如按鍵可能會失去彈

• 優(yōu)爾鴻信檢測|多層陶瓷電容短路失效分析

  一 背景客戶汽車方向盤主板功能失效，經(jīng)排查后主板 C1 電容出現(xiàn)短路現(xiàn)象（經(jīng)萬用表量測，電容兩端阻值約 14 KΩ），送測至實驗室分析其失效原因。二 實驗方案三 測試結(jié)果1.電容測量（破壞前）：采用萬用表“歐姆”檔測量 C1 電容兩端阻值為 14.23KΩ。2.3D 外觀觀察：主板 C1 位置焊盤表面殘存淡黃色透明裝物質(zhì)，其余未見異常。3.SEM 外觀檢查（破壞前）：C1 電容表面及 Psd 點附

• 優(yōu)爾鴻信2024年研討會計劃

  尊敬的客戶及朋友們：?? ? ? ? ?優(yōu)爾鴻信檢測2024年研討會排期如下，大家全網(wǎng)搜索優(yōu)爾鴻信觀看直播，與講師線上互動。注：表中部分內(nèi)容在實施中或有變動，具體實施時間以實際為準(zhǔn)。

• 優(yōu)爾鴻信檢測|電子電氣產(chǎn)品耐化學(xué)試劑檢測方法

  電子電氣產(chǎn)品耐化學(xué)試劑檢測是確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全性的重要環(huán)節(jié)。以下是一些常見的檢測方法：一、浸泡法這是最基本的檢測方式。將電子電氣產(chǎn)品的樣品或其零部件完全浸泡在特定的化學(xué)試劑中。浸泡的時間和溫度需要根據(jù)產(chǎn)品的使用環(huán)境和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。例如，對于一些可能接觸到酸性清潔劑的電子設(shè)備外殼，會將其浸泡在一定濃度的酸性試劑（如 pH 值為 3 - 4 的醋酸溶液）中 24 - 48 小時，溫度控制在 23℃±