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失效分析流程各種材料失效分析方法1 PCB/PCBA失效分析PCB作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的較為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。失效模式爆板、分層、短路、起泡,焊接不良,腐蝕遷移等。常用手段無損:外觀檢查,X射線透視,三維CT,C-SAM,紅外熱成像表面元素分析:掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)顯微
無效分析是芯片設(shè)計關(guān)鍵步驟,無論針對批量生產(chǎn)樣品或是設(shè)計方案階段亦或是客退品,無效分析可以協(xié)助控制成本,減少周期時間。普遍的無效分析方式有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,由于無效分析機(jī)器設(shè)備價格昂貴,絕大多數(shù)要求企業(yè)配不上或配參差不齊必須的機(jī)器設(shè)備,因而使用外力作用,應(yīng)用擴(kuò)大開放的資源,來進(jìn)行自身的分析也是一種有效的挑選。大家決定去外邊檢
協(xié)助企業(yè)建立完善的生產(chǎn)管理體系,不斷降低成本及浪費(fèi),優(yōu)化流程,提高生產(chǎn)效率。
1. 化學(xué)成分分析測試方法:GB/T 4336-2016元素碳(C)硅(Si)錳(Mn)磷(P)硫(S)鉻(Cr)鉬(Mo)鎳(Ni)要求(wt)(1),%≤0.18≤0.500.90~1.65≤0.015(2)≤0.005≤0.30≤0.10≤0.50結(jié)果(wt),%0.100.281.240.011<0.0020.050.010.01元素鋁(Alt)銅(Cu)鈮(Nb)鈦(Ti)釩(V)
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CMA資質(zhì)認(rèn)定_申請CMA資質(zhì)認(rèn)定的意義

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