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詞條說明
無效分析是芯片設計關(guān)鍵步驟,無論針對批量生產(chǎn)樣品或是設計方案階段亦或是客退品,無效分析可以協(xié)助控制成本,減少周期時間。普遍的無效分析方式有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,由于無效分析機器設備價格昂貴,絕大多數(shù)要求企業(yè)配不上或配參差不齊必須的機器設備,因而使用外力作用,應用擴大開放的資源,來進行自身的分析也是一種有效的挑選。大家決定去外邊檢
失效分析流程各種材料失效分析方法1 PCB/PCBA失效分析PCB作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的較為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機設備的質(zhì)量與可靠性。失效模式爆板、分層、短路、起泡,焊接不良,腐蝕遷移等。常用手段無損:外觀檢查,X射線透視,三維CT,C-SAM,紅外熱成像表面元素分析:掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)顯微
1、確認產(chǎn)品各性能參數(shù),2、確認產(chǎn)品數(shù)量/重量,3、確認產(chǎn)品包裝,4、客戶特殊要求,5、檢驗工作完成1個工作日內(nèi)出具保證產(chǎn)品質(zhì)量符合設計及客戶要求,防止不合格產(chǎn)品發(fā)貨,降低產(chǎn)品使用風險,確保后續(xù)過程按計劃進行
鍍層位置結(jié)果,(μm)平均厚度,(μm)銅(Cu)12.822.942.932.983.262.992.8322.812.342.392.582.952.6132.892.752.722.422.202.6042.572....鍍層位置結(jié)果,(μm)平均厚度,(μm)銅(Cu)12.822.942.932.983.262.992.8322.812.342.392.582.952.6132.892.
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