IC封裝失效分析實驗室

時間：2020-04-13

作者：儀準科技（北京）有限公司

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聚焦離子束FIB詳細介紹
聚焦離子束FIB詳解 1.引言隨著納米科技的發(fā)展，納米尺度制造業(yè)發(fā)展*，而納米加工就是納米制造業(yè)的核心部分，納米加工的代表性方法就是聚焦離子束。近年來發(fā)展起來的聚焦離子束（FIB）技術(shù)利用高強度聚焦離子束對材料進行納米加工，配合掃描電鏡（SEM）等高倍數(shù)電子顯微鏡實時觀察，成為了納米級分析、制造的主要方法。目前已廣泛應(yīng)用于半導體集成電路修改、切割和故障分析等。 2.工作原理聚焦離子束(ed
疫情捐助百萬探針臺無償捐贈湖北
疫情當下，中國經(jīng)濟發(fā)展將受到短暫的影響。儀準科技心系國家，將愛傳遞，特向受影響較大的湖北省援助價值百萬的探針臺。援助方案分兩部分，總價值**過100**民幣。 1、免費捐贈探針臺產(chǎn)品（5臺）。 A、 ADVANCED PW-400-PCKG 3套每套配置如下： PW-400：4 inch chuck（探針臺主體） 1 pcs SMZ-168： 20X目鏡 15-100x放大(體式顯微鏡) 1
半導體技術(shù)公益課
半導體技術(shù)公益課：有需要線上分享可以安排時間講您擅長的領(lǐng)域，半導體相關(guān)的都歡迎，話題時長不限名稱：半導體技術(shù)公益課講師征集時間：每周五下午5-7點時長：不限方式：直播分享演講者可以準備ppt，發(fā)來題目，框架，時長，個人簡介，協(xié)調(diào)好時間后即可安排。想做線上分享的，可以聊您擅長的領(lǐng)域，半導體相關(guān)的都歡迎，話題，時長不限 IC失效分析實驗室北軟檢測智能產(chǎn)品檢測實驗室于2015年底實施運營
芯片開封decap簡介及芯片開封在失效分析中應(yīng)用案例分析
半導體元器件失效分析性測試?2024年07月08日 15:32?北京DECAP：即開封，業(yè)內(nèi)也稱開蓋，開帽。是指將完整封裝的IC做局部腐蝕，使得IC可以暴露出來，同時保持芯片功能的完整無損，為下一步芯片失效分析實驗做準備，方便觀察或做其他測試。通過芯片開封，我們可以為直觀的觀察到芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)，從而結(jié)合OM，X-RAY等設(shè)備分析判斷樣品的異常點位和失效的可能原因。開封方法及注意