科研測(cè)試補(bǔ)貼90% 附申請(qǐng)鏈接

時(shí)間：2020-04-23作者：儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司瀏覽：74

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• 詞條

  詞條說明

• 顯微鏡測(cè)試倍數(shù)計(jì)算

  如何確認(rèn)顯微鏡的放大倍率 很多實(shí)驗(yàn)室都在使用顯微鏡，但對(duì)顯微鏡的相關(guān)專業(yè)知識(shí)并不了解，只是知道怎么去操作，但對(duì)于一些基本常識(shí)可能都不怎么清楚，那么今天我們就來講講有關(guān)顯微鏡的放大倍率是如何計(jì)算的？ 也許有人會(huì)說這不是很簡(jiǎn)單的問題嘛，但實(shí)際還是有點(diǎn)小復(fù)雜的。 首先我們來舉個(gè)例子來說：當(dāng)體視顯微鏡目鏡的倍率為10倍，變倍體變倍范圍是：0.7X-4.5X，附加物鏡為：2X。那它的光學(xué)放大倍率為：10乘0

• 再談光刻機(jī)

  有位讀者給《光刻機(jī)之戰(zhàn)》留言，說德國(guó)蔡司才是真正的王者，怎么自己不做光刻機(jī)呢。 這還真不是個(gè)蠢問題，尼康和佳能都做蔡司為什么不能做呢？其實(shí)蔡司還真做過光刻機(jī)。 在我翻譯的《ASML's Architects》(暫定名：阿斯麥傳奇)一書里，有詳細(xì)地講到蔡司的故事。中間很多不為人知的往事，讓我今天決定抽取一點(diǎn)細(xì)節(jié)發(fā)散聊一下。 一 蔡司公司迄今已經(jīng)**過170年歷史，中間的風(fēng)風(fēng)雨雨不敢多講，我們從二戰(zhàn)開始

• 失效分析簡(jiǎn)介

  電子元器件失效分析 1、簡(jiǎn)介 電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ)，元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。因此，必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作，通過分析確定失效機(jī)理，找出失效原因，反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用，共同研究和實(shí)施糾正措施，提高電子元器件的可靠性。 電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失

• 常用顯微鏡介紹

  常用顯微鏡介紹顯微鏡分析檢測(cè) 一、顯微鏡分析檢測(cè)簡(jiǎn)介： 顯微鏡是我們實(shí)驗(yàn)室較常用的分析設(shè)備，成本低，操作簡(jiǎn)單，成像清晰。反饋的是樣品的原貌。通常顯微鏡是用來做外觀的檢測(cè)和圖片留存。 外觀檢查就是目測(cè)或利用一些簡(jiǎn)單儀器，如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查樣品的外觀，尋找失效的部位和相關(guān)的物證，主要的作用就是失效定位和初步判斷樣品的失效模式。比如檢測(cè)一個(gè)PCB樣品，外觀檢查主要檢查PCB的污