芯片開封技術介紹decap

時間：2020-05-07

作者：儀準科技（北京）有限公司

詞條
詞條說明
探針臺支援湖北
儀準科技向湖北半導體產(chǎn)業(yè)伸出援助之手援鄂行動愛在傳遞儀準科技成立至今已逾十載，十年來在國家政策幫扶和半導體行業(yè)關愛下茁壯成長，砥礪前行！疫情當下，中國經(jīng)濟發(fā)展將受到短暫的影響。儀準科技心系國家，將愛傳遞，特向受影響較大的湖北省援助**百萬的探針臺。援助方案分兩部分，總****過100**民幣1、免費捐贈探針臺產(chǎn)品（5臺）。 A、 ADVANCED PW-400-PCKG 3套每套配置如下：
無損檢測科普
無損檢測分析工程檢查/無損檢測無損檢測是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對被檢驗部件的表面和內(nèi)部質量進行檢查的一種測試手段。無損檢測方法常用的無損檢測方法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。無損檢測目地通過對產(chǎn)品內(nèi)部缺陷進行檢測對產(chǎn)品從以下方面進行改進。 1、改進制造工藝； 2、降低制造成本； 3、提高產(chǎn)品的可靠性； 4
半導體分析樣品制備
失效分析樣品準備：失效分析趙工半導體元器件失效分析可靠性測試 1月6日失效分析樣品準備：失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié)，無論對于量產(chǎn)樣品還是設計環(huán)節(jié)亦或是客退品，失效分析可以幫助降低成本，縮短周期。常見的失效分析方法有Decap，X-RAY，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE等，因為失效分析設備昂貴，大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備，因此借用外力，使用對
半導體微信交流群
半導體微信交流群 2020年的開端，空氣中彌漫著新型冠狀病毒的氣息，提醒大家勤洗手多消毒加防護，相對于各式各樣的口罩，宅在家里不動無疑較安全。人在家心卻在江湖，工作還是不能拉下的，小編貼心的為大家整理了半導體微信群，方便大家交流。讓有限的資源發(fā)揮應有的**，每人限申請一個，請備注清楚申請哪個群。資源有限，已經(jīng)申請過的請不要重復申請，把有限的名額留給較需要的人。請遵紀守法，文明用語，發(fā)垃圾信息一律請