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掃描電鏡(SEM) 服務介紹:SEM/EDX(形貌觀測、成分分析)掃描電鏡(SEM)可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長和強度實現的,根據不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡(SEM)使用,可以對樣品進行微區(qū)成分分析。 服務范圍:**,航天,半導體,先進
失效分析樣品準備: 失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對于量產樣品還是設計環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,FIB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備
科研測試補貼90% 附申請鏈接 半導體元器件失效分析可靠性測試 今天 在北京地區(qū)注冊,具有獨立法人資格,在職正式職工不多于100人,營業(yè)收入1000萬元以下,注冊資金不**2000萬元,具有健全的財務機構,管理規(guī)范,無不良誠信記錄; 每年度符合補貼要求的業(yè)務合同金額 10萬元及以下的部分按照較高不**過90%的比例核定; **過10萬元至50萬元的部分按照較高不**過60%的比例核定; **過50萬元至1
2018年失效分析技術分享活動,儀準科技自2012年在北京建立以來,一直受到半導體行業(yè)內**們的支持與鼓勵,這6年來,有贊美,有夸獎,有磕絆,也有不足;感謝大家一直以來的包容與支持,**們之間的反饋與意見是我們進步的較大推動力。 我們也一直在半導體行業(yè)中努力吸收新鮮知識,緊跟行業(yè)潮流,完善公司設備及技術要求,盡我們的較大努力,去達到實驗標準。 儀準科技特此推出2018年年中的優(yōu)惠活動,以此來回饋新
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